发明授权
- 专利标题： Measurement of SC/H phase
- 专利标题（中）： SC / H相的测量
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申请号： EP87301928.5申请日： 1987-03-05
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公开(公告)号： EP0237278B1公开(公告)日： 1993-06-23
- 发明人: Baker, Daniel G. , Ainsworth, Kenneth M.
- 申请人： TEKTRONIX, INC.
- 申请人地址： Corporate Headquarters, 26600 S.W. Parkway Wilsonville, Oregon 97070-1000 US
- 专利权人： TEKTRONIX, INC.
- 当前专利权人： TEKTRONIX, INC.
- 当前专利权人地址： Corporate Headquarters, 26600 S.W. Parkway Wilsonville, Oregon 97070-1000 US
- 代理机构： Burke, Steven David
- 优先权： US836944 19860306
- 主分类号： H04N17/02
- IPC分类号： H04N17/02 ; G01R13/30
公开/授权文献
- EP0237278A2 Measurement of SC/H phase 公开/授权日：1987-09-16
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