发明公开
EP0265554A1 Electrically erasable fused programmable logic array
失效
Mit elektrischlöschbarenSicherungen versehens programmierbares logisches Feld。
- 专利标题： Electrically erasable fused programmable logic array
- 专利标题（中）： Mit elektrischlöschbarenSicherungen versehens programmierbares logisches Feld。
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申请号： EP86115146.2申请日： 1986-10-31
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公开(公告)号： EP0265554A1公开(公告)日： 1988-05-04
- 发明人: Wei, James Yuan
- 申请人： INTERSIL, INC. (a Delaware corp.)
- 申请人地址： 2450 Walsh Avenue Santa Clara California 95051 US
- 专利权人： INTERSIL, INC. (a Delaware corp.)
- 当前专利权人： INTERSIL, INC. (a Delaware corp.)
- 当前专利权人地址： 2450 Walsh Avenue Santa Clara California 95051 US
- 代理机构： Smith, Thomas Ian Macdonald (GB)
- 主分类号： H03K19/177
- IPC分类号： H03K19/177
摘要：
Disclosed is a programmable logic gate array employing a plurality of reprogrammable fuses (20) having a logical NAND characteristic for logically connecting selected inputs (A o -A n ) to selected logic gates (22). Means E 5 , P s are also disclosed for programming said fuses and for providing appropriate signals to allow three modes of operation of the logic gate array; programming, erasure and normal logic operation.
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