发明公开
- 专利标题: METHOD AND CONFIGURATION FOR TESTING ELECTRONIC CIRCUITS AND INTEGRATED CIRCUIT CHIPS USING A REMOVABLE OVERLAY LAYER
- 专利标题(中): 方法和设备测试电子电路和集成电路芯片表面覆盖层可拆卸。
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申请号: EP87906629.0申请日: 1987-09-28
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公开(公告)号: EP0286660A1公开(公告)日: 1988-10-19
- 发明人: EICHELBERGER, Charles, William , WOJNAROWSKI, Robert, John , WELLES, Kenneth, Brakeley, II
- 申请人: GENERAL ELECTRIC COMPANY
- 申请人地址: 1 River Road Schenectady, NY 12345 US
- 专利权人: GENERAL ELECTRIC COMPANY
- 当前专利权人: GENERAL ELECTRIC COMPANY
- 当前专利权人地址: 1 River Road Schenectady, NY 12345 US
- 代理机构: Kennington, Eric Alasdair, et al
- 优先权: US19860912454 19860926
- 国际公布: WO1988002549 19880407
- 主分类号: H01L21
- IPC分类号: H01L21 ; G01R31 ; H01L23 ; G01R1
摘要:
On utilise une couche amovible de recouvrement (50), avec son motif associé de métallisation pour obtenir de manière efficace l'intégration de plaquettes de circuits imprimés à l'échelle de la plaquette gauffrée. Ce procédé et cette configuration permettent de fabriquer et de contrôler des systèmes qui seraient autrement impossibles à contrôler. La présente invention permet également de contrôler des systèmes à circuits intégrés (15) dans leur configuration finale en termes de vitesse et d'environnement de travail, en éliminant de nombreux problèmes associés aux sondes de plaquettes simples ou gauffrées. L'invention utilise également des plaquettes spéciales de contrôle (14) fixées de manière temporaire ou permanente à un paquet de plaquettes de circuits imprimés.
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