发明公开
- 专利标题: Verfahren und Untersuchung einer auf dem Kaltkopf eines Kryostaten befindlichen Probe und Einrichtung dazu
- 专利标题(英): Method and apparatus for investigating a sample on the cold finger of a cryostat
- 专利标题(中): 用于调查冷冻手指样品的方法和装置
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申请号: EP89119373.2申请日: 1989-10-19
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公开(公告)号: EP0367028A3公开(公告)日: 1990-09-26
- 发明人: Sous, Hans-Dieter , Strasser, Wilhelm , Voss, Gerhard, Dr.
- 申请人: LEYBOLD AKTIENGESELLSCHAFT
- 申请人地址: Wilhelm-Rohn-Strasse 25, Postfach 1555 D-63450 Hanau DE
- 专利权人: LEYBOLD AKTIENGESELLSCHAFT
- 当前专利权人: LEYBOLD AKTIENGESELLSCHAFT
- 当前专利权人地址: Wilhelm-Rohn-Strasse 25, Postfach 1555 D-63450 Hanau DE
- 代理机构: Leineweber, Jürgen, Dipl.-Phys.
- 优先权: DE3836884 19881029
- 主分类号: G01N1/28
- IPC分类号: G01N1/28 ; F25B9/00
摘要:
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Untersuchung einer auf dem Kaltkopf eines Kryostaten befindlichen Probe mit Hilfe einer Meßeinrichtung, wobei der Kryostat (1) mit einem Refrigerator (3) betrieben wird, dem Einrichtungen (20, 28) zur Steuerung der Bewegung seines oder seiner Verdränger (16, 17) sowie zur Steuerung der Versorgung des oder der Arbeitsräume (14, 15) mit Arbeitsgas zugeordnet sind; um Beeinträchtigungen von Messungen an oder mit der Probe durch Erschütterungen infolge der Verdrängerbewegungen zu vermeiden, wird vorgeschlagen, daß der der Untersuchung der Probe dienende Meßprozeß in Zeitintervallen durchgeführt wird, in denen sich der Verdränger im wesentlichen in Ruhe oder in gleichförmiger Bewegung befindet.
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