摘要:
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Untersuchung einer auf dem Kaltkopf eines Kryostaten befindlichen Probe mit Hilfe einer Meßeinrichtung, wobei der Kryostat (1) mit einem Refrigerator (3) betrieben wird, dem Einrichtungen (20, 28) zur Steuerung der Bewegung seines oder seiner Verdränger (16, 17) sowie zur Steuerung der Versorgung des oder der Arbeitsräume (14, 15) mit Arbeitsgas zugeordnet sind; um Beeinträchtigungen von Messungen an oder mit der Probe durch Erschütterungen infolge der Verdrängerbewegungen zu vermeiden, wird vorgeschlagen, daß der der Untersuchung der Probe dienende Meßprozeß in Zeitintervallen durchgeführt wird, in denen sich der Verdränger im wesentlichen in Ruhe oder in gleichförmiger Bewegung befindet.
摘要:
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Untersuchung einer auf dem Kaltkopf eines Kryostaten befindlichen Probe mit Hilfe einer Meßeinrichtung, wobei der Kryostat (1) mit einem Refrigerator (3) betrieben wird, dem Einrichtungen (20, 28) zur Steuerung der Bewegung seines oder seiner Verdränger (16, 17) sowie zur Steuerung der Versorgung des oder der Arbeitsräume (14, 15) mit Arbeitsgas zugeordnet sind; um Beeinträchtigungen von Messungen an oder mit der Probe durch Erschütterungen infolge der Verdrängerbewegungen zu vermeiden, wird vorgeschlagen, daß der der Untersuchung der Probe dienende Meßprozeß in Zeitintervallen durchgeführt wird, in denen sich der Verdränger im wesentlichen in Ruhe oder in gleichförmiger Bewegung befindet.