发明公开
EP0490738A1 Circuit intégré avec contrôleur de test périphérique
失效
Integrierter Schaltkreis mitPeripherieprüfungssteuerung。
- 专利标题： Circuit intégré avec contrôleur de test périphérique
- 专利标题（英）： Integrated circuit with peripheral test controller
- 专利标题（中）： Integrierter Schaltkreis mitPeripherieprüfungssteuerung。
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申请号： EP91403306.3申请日： 1991-12-06
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公开(公告)号： EP0490738A1公开(公告)日： 1992-06-17
- 发明人: Lestrat, Patrick , Leveugle, Régis
- 申请人： THOMSON-CSF SEMICONDUCTEURS SPECIFIQUES
- 申请人地址： 173, Boulevard Haussmann 75008 Paris FR
- 专利权人： THOMSON-CSF SEMICONDUCTEURS SPECIFIQUES
- 当前专利权人： THOMSON-CSF SEMICONDUCTEURS SPECIFIQUES
- 当前专利权人地址： 173, Boulevard Haussmann 75008 Paris FR
- 代理机构： Guérin, Michel
- 优先权： FR9015348 19901207
- 主分类号： G06F11/26
- IPC分类号： G06F11/26 ; G01R31/28
摘要：
L'invention concerne les circuits intégrés complexes incorporant des moyens de tests interne. Le contrôleur de test comporte :
une machine à états finis ou registre d'états (RE1 à RE4) dont les sorties parallèles sont rebouclées sur les entrées parallèles à travers une logique combinatoire (LCB) qui peut également recevoir des signaux de commande extérieurs (TMS, TCK, TRST);
des multiplexeurs (MU1 à MU4) associés aux cellules du registre d'états pour permettre soit un fonctionnement sériel soit un fonctionnement parallèle de ce registre d'états;
et un étage de génération de signaux de contrôle (GSC), connecté en sortie du registre pour fournir des signaux de contrôle des autres éléments de la circuiterie de test, en fonction de l'état défini par le registre d'états.
Selon l'invention, on propose que les multiplexeurs soient pourvus d'entrées supplémentaires permettant de stocker dans ces cellules, en vue de les transmettre ultérieurement pour observation, l'état d'au moins certains les signaux de contrôle.
Ainsi, il devient possible non seulement de tester les états du registre d'état (pour vérifier que la machine à états finis prend bien tous les états qu'elle doit prendre) mais aussi de tester les signaux de contrôle émis par le contrôleur, pour vérifier que les signaux de contrôle émis sont bien les signaux désirés. On détecte ainsi plus vite des défauts éventuels de la circuiterie de test elle-même.
une machine à états finis ou registre d'états (RE1 à RE4) dont les sorties parallèles sont rebouclées sur les entrées parallèles à travers une logique combinatoire (LCB) qui peut également recevoir des signaux de commande extérieurs (TMS, TCK, TRST);
des multiplexeurs (MU1 à MU4) associés aux cellules du registre d'états pour permettre soit un fonctionnement sériel soit un fonctionnement parallèle de ce registre d'états;
et un étage de génération de signaux de contrôle (GSC), connecté en sortie du registre pour fournir des signaux de contrôle des autres éléments de la circuiterie de test, en fonction de l'état défini par le registre d'états.
Selon l'invention, on propose que les multiplexeurs soient pourvus d'entrées supplémentaires permettant de stocker dans ces cellules, en vue de les transmettre ultérieurement pour observation, l'état d'au moins certains les signaux de contrôle.
Ainsi, il devient possible non seulement de tester les états du registre d'état (pour vérifier que la machine à états finis prend bien tous les états qu'elle doit prendre) mais aussi de tester les signaux de contrôle émis par le contrôleur, pour vérifier que les signaux de contrôle émis sont bien les signaux désirés. On détecte ainsi plus vite des défauts éventuels de la circuiterie de test elle-même.
公开/授权文献
- EP0490738B1 Circuit intégré avec contrôleur de test périphérique 公开/授权日：1996-01-24
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