公开(公告)号：EP0490738B1

公开(公告)日：1996-01-24

申请号：EP91403306.3

申请日：1991-12-06

申请人： THOMSON-CSF SEMICONDUCTEURS SPECIFIQUES

发明人： Lestrat, Patrick ,  Leveugle, Régis

IPC分类号： G06F11/26

CPC分类号： G01R31/318555

公开(公告)号：EP0490738A1

公开(公告)日：1992-06-17

申请号：EP91403306.3

申请日：1991-12-06

申请人： THOMSON-CSF SEMICONDUCTEURS SPECIFIQUES

发明人： Lestrat, Patrick ,  Leveugle, Régis

IPC分类号： G06F11/26 ,  G01R31/28

CPC分类号： G01R31/318555

摘要： L'invention concerne les circuits intégrés complexes incorporant des moyens de tests interne. Le contrôleur de test comporte :

une machine à états finis ou registre d'états (RE1 à RE4) dont les sorties parallèles sont rebouclées sur les entrées parallèles à travers une logique combinatoire (LCB) qui peut également recevoir des signaux de commande extérieurs (TMS, TCK, TRST);
des multiplexeurs (MU1 à MU4) associés aux cellules du registre d'états pour permettre soit un fonctionnement sériel soit un fonctionnement parallèle de ce registre d'états;
et un étage de génération de signaux de contrôle (GSC), connecté en sortie du registre pour fournir des signaux de contrôle des autres éléments de la circuiterie de test, en fonction de l'état défini par le registre d'états.

Selon l'invention, on propose que les multiplexeurs soient pourvus d'entrées supplémentaires permettant de stocker dans ces cellules, en vue de les transmettre ultérieurement pour observation, l'état d'au moins certains les signaux de contrôle.
Ainsi, il devient possible non seulement de tester les états du registre d'état (pour vérifier que la machine à états finis prend bien tous les états qu'elle doit prendre) mais aussi de tester les signaux de contrôle émis par le contrôleur, pour vérifier que les signaux de contrôle émis sont bien les signaux désirés. On détecte ainsi plus vite des défauts éventuels de la circuiterie de test elle-même.

摘要翻译： 本发明涉及包含内部测试装置的复杂集成电路。 测试控制器包括：有限状态机或状态寄存器（RE​​1至RE4），其并行输出通过也可以接收外部控制信号（TMS，TCK，TRST）的组合逻辑（LCB）环回到并行输入。 - 与状态单元相关联的多路复用器（MU1至MU4），用于允许该状态寄存器的串行操作或并行操作; - 和控制信号生成级（GSC），连接在寄存器的输出端，以便根据状态寄存器定义的状态为测试电路的其他元件提供控制信号。 根据本发明，提出了多路复用器具有额外的输入，使得可以存储在这些单元中，以便稍后传输用于观察的至少一些控制信号的状态。 因此，不仅可以测试状态寄存器的状态（为了检查有限状态机真的是否采取了应该采取的所有状态），而且还可以按照顺序测试由控制器发送的控制信号 以检查发送的控制信号是否是所需的信号。 因此，可以更快地检测测试电路本身的可能缺陷。