发明授权
EP0878908B1 Semiconductor device using complementary clock and signal input state detection circuit used for the same
失效
具有用于检测所述输入信号状态的互补时钟和电路的半导体装置
- 专利标题： Semiconductor device using complementary clock and signal input state detection circuit used for the same
- 专利标题（中）： 具有用于检测所述输入信号状态的互补时钟和电路的半导体装置
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申请号： EP97307632.6申请日： 1997-09-29
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公开(公告)号： EP0878908B1公开(公告)日： 2001-12-05
- 发明人: Taguchi, Masao , Tomita, Hiroyoshi , Matsuzaki, Yasurou
- 申请人： FUJITSU LIMITED
- 申请人地址： 1-1, Kamikodanaka 4-chome, Nakahara-ku Kawasaki-shi, Kanagawa 211-8588 JP
- 专利权人： FUJITSU LIMITED
- 当前专利权人： FUJITSU LIMITED
- 当前专利权人地址： 1-1, Kamikodanaka 4-chome, Nakahara-ku Kawasaki-shi, Kanagawa 211-8588 JP
- 代理机构： Stebbing, Timothy Charles
- 优先权： JP10337597 19970421
- 主分类号： H03K5/151
- IPC分类号： H03K5/151 ; G11C7/00
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