发明公开
EP1744231A3 Vorrichtung und Verfahren zur Qualitätskontrolle von Markierungen 审中-公开
的装置和方法的标记的质量控制

  • 专利标题: Vorrichtung und Verfahren zur Qualitätskontrolle von Markierungen
  • 专利标题(英): Device and method for quality control of markings
  • 专利标题(中): 的装置和方法的标记的质量控制
  • 申请号: EP06117057.7
    申请日: 2006-07-12
  • 公开(公告)号: EP1744231A3
    公开(公告)日: 2009-05-06
  • 发明人: Fröhlich, Konrad
  • 申请人: Borries Markier-Systeme GmbH
  • 申请人地址: Siemensstrasse 3 72124 Pliezhausen DE
  • 专利权人: Borries Markier-Systeme GmbH
  • 当前专利权人: Borries Markier-Systeme GmbH
  • 当前专利权人地址: Siemensstrasse 3 72124 Pliezhausen DE
  • 代理机构: Farago, Peter Andreas
  • 优先权: DE102005032903 20050712; DE102005037411 20050808
  • 主分类号: G05B19/401
  • IPC分类号: G05B19/401 B44B3/02
Vorrichtung und Verfahren zur Qualitätskontrolle von Markierungen
摘要:
Die vorliegende Erfindung beschreibt eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Vermessung der Prägetiefe von Markierungen an einem Werkstück, die einen an einer Markiervorrichtung mit NC-Steuerung angebrachten Sensor für die Erfassung der Prägetiefe umfasst, wobei die NC-Steuerung mit der Elektronik des Sensors integriert ist, so dass die Steuerdaten der NC-Steuerung ebenfalls für die Positionierung und wahlweise Parametrierung des Sensors sowie zur positionsabhängigen Bewertung der Messwerte zur Verfügung stehen zur Verfügung stehen.
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