- 专利标题： APPARATUS AND METHOD FOR TESTING A CIRCUIT
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申请号： EP17717186.5申请日： 2017-04-13
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公开(公告)号： EP3427074B1公开(公告)日： 2020-02-05
- 发明人: GERTH, Stephan , EINWICH, Karsten , MARKWIRTH, Thomas
- 申请人： Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V.
- 申请人地址： Hansastraße 27c 80686 München DE
- 专利权人： Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V.
- 当前专利权人： Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V.
- 当前专利权人地址： Hansastraße 27c 80686 München DE
- 代理机构： Schairer, Oliver
- 优先权： EP16165674 20160415; EP16183057 20160805
- 国际公布： WO2017178617 20171019
- 主分类号： G01R31/3183
- IPC分类号： G01R31/3183 ; G06F17/50
公开/授权文献
- EP3427074A1 APPARATUS AND METHOD FOR TESTING A CIRCUIT 公开/授权日：2019-01-16
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