MEMORY ARRAYS AND METHODS USED IN FORMING A MEMORY ARRAY COMPRISING STRINGS OF MEMORY CELLS AND OPERATIVE THROUGH-ARRAY-VIAS

发明公开

EP4010923A1 MEMORY ARRAYS AND METHODS USED IN FORMING A MEMORY ARRAY COMPRISING STRINGS OF MEMORY CELLS AND OPERATIVE THROUGH-ARRAY-VIAS 审中-公开

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专利标题： MEMORY ARRAYS AND METHODS USED IN FORMING A MEMORY ARRAY COMPRISING STRINGS OF MEMORY CELLS AND OPERATIVE THROUGH-ARRAY-VIAS
申请号： EP20850045.4

申请日： 2020-05-06
公开(公告)号： EP4010923A1

公开(公告)日： 2022-06-15
发明人: HU, Yi , CARLSON, Merri, L. , CHANDOLU, Anilkumar , CHARY, Indra, V. , DAYCOCK, David , JAIN, Harsh, Narendrakumar , KING, Matthew, J. , LI, Jian , LOWE, Brett, D. , MOKHNA RAU, Prakash, Rau , XU, Lifang
申请人： Micron Technology, Inc.
申请人地址： US Boise, ID 83716 8000 S. Federal Way
代理机构： Granleese, Rhian Jane
优先权： US201916532019 20190805
国际公布： WO2021025748 20210211
主分类号： H01L27/11582
IPC分类号： H01L27/11582 ; H01L27/11519 ; H01L27/11524 ; H01L27/11556 ; H01L27/11565 ; H01L27/1157 ; H01L21/768

MEMORY ARRAYS AND METHODS USED IN FORMING A MEMORY ARRAY COMPRISING STRINGS OF MEMORY CELLS AND OPERATIVE THROUGH-ARRAY-VIAS

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IPC分类:

H	电学
H01	基本电气元件
H01L	半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件（使用半导体器件的测量入G01；一般电阻器入H01C；磁体、电感器、变压器入H01F；一般电容器入H01G；电解型器件入H01G9/00；电池组、蓄电池入H01M；波导管、谐振器或波导型线路入H01P；线路连接器、汇流器入H01R；受激发射器件入H01S；机电谐振器入H03H；扬声器、送话器、留声机拾音器或类似的声机电传感器入H04R；一般电光源入H05B；印刷电路、混合电路、电设备的外壳或结构零部件、电气元件的组件的制造入H05K；在具有特殊应用的电路中使用的半导体器件见应用相关的小类）
H01L27/00	由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件（其零部件入H01L23/00，H01L29/00至H01L51/00；由多个单个固态器件组成的组装件入H01L25/00）
H01L27/02	.包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的；包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27/04	..其衬底为半导体的
H01L27/10	...在重复结构中包括有多个独立组件的
H01L27/105	....包含场效应组件的
H01L27/112	.....只读存储器结构的
H01L27/115	...... · · · · ·电动编程只读存储器；其多步骤制造方法
H01L27/11563	....... · · · · · ·具有电荷俘获栅极绝缘层的，例如，MNOS，NROM
H01L27/11578	........ · · · · · · ·以三维布置为特征的，例如，单元胞在不同的高度层
H01L27/1158	......... · · · · · · · · 具有在不同层的源区和漏区的，例如，具有倾斜沟道的
H01L27/11582	.......... · · · · · · · · ·沟道具有垂直部分的，例如，U形沟道