发明专利
- 专利标题: 用於形成垂直電晶體架構的技術
- 专利标题(英): Techniques for forming vertical transistor architectures
- 专利标题(中): 用于形成垂直晶体管架构的技术
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申请号: TW104115590申请日: 2015-05-15
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公开(公告)号: TW201606996A公开(公告)日: 2016-02-16
- 发明人: 全箕玟 , JUN, KIMIN , 摩洛 派翠克 , MORROW, PATRICK
- 申请人: 英特爾股份有限公司 , INTEL CORPORATION
- 专利权人: 英特爾股份有限公司,INTEL CORPORATION
- 当前专利权人: 英特爾股份有限公司,INTEL CORPORATION
- 代理商 林志剛
- 优先权: PCT/US14/43683 20140623
- 主分类号: H01L27/118
- IPC分类号: H01L27/118 ; H01L27/105 ; H01L27/092 ; H03K19/20 ; H01L21/82
摘要:
揭露用於形成垂直電晶體架構的技術。依照一些實施例,半導體層係設置於一下互連層上方且被圖案化成為一規則、半規則、或不規則陣列的複數個垂直半導體主體(例如,奈米線及/或其他三維半導體結構),如對一給定目標應用或最終用途所期望。之後,依照一些實施例,在一上互連層之後形成了圍繞該些垂直半導體主體之每個(或一些子集)的主動通道部分的一閘極層。在處理期間,一給定垂直半導體主體可能可選地被移除且依照一些實施例,(1)被空白以提供一虛擬通道;或(2)被替換成一導電插件以提供一通孔或其他層間繞線。能以多個迭代來進行處理,例如,用以提供任何標準及/或定制配置的多級/堆疊垂直電晶體電路架構。
公开/授权文献
- TWI617011B 用於形成垂直電晶體架構的技術 公开/授权日:2018-03-01
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