发明申请
US20050199801A1 Probing method using ion trap mass spectrometer and probing device
有权
使用离子阱质谱仪和探测装置的探测方法
- 专利标题： Probing method using ion trap mass spectrometer and probing device
- 专利标题（中）： 使用离子阱质谱仪和探测装置的探测方法
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申请号： US11123202申请日： 2005-05-06
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公开(公告)号： US20050199801A1公开(公告)日： 2005-09-15
- 发明人: Yasuaki Takada , Minoru Sakairi
- 申请人： Yasuaki Takada , Minoru Sakairi
- 主分类号： B01D59/44
- IPC分类号： B01D59/44 ; H01J49/42
摘要：
An analyzing method using a tandem mass spectrometric apparatus includes a first analysis step of acquiring a mass spectrum, a decision step of deciding if ions of a predetermined m/z value are present, and a second analysis step of acquiring a tandem mass spectrum according to the decision results from the first analysis step.
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