发明申请
- 专利标题： SIFT-MS INSTRUMENT
- 专利标题（中）： SIFT-MS仪器
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申请号： US12445817申请日： 2007-10-19
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公开(公告)号： US20110024614A1公开(公告)日： 2011-02-03
- 发明人: Paul Francis Wilson , Geoffrey Charles Peck
- 申请人： Paul Francis Wilson , Geoffrey Charles Peck
- 申请人地址： NZ Christchurch
- 专利权人： SYFT Technologies Limited
- 当前专利权人： SYFT Technologies Limited
- 当前专利权人地址： NZ Christchurch
- 优先权： NZ549911 20061019
- 国际申请： PCT/NZ2007/000313 WO 20071019
- 主分类号： H01J49/40
- IPC分类号： H01J49/40 ; H01J49/28
摘要：
A method of improving signal intensity of precursor ions constrained in a carrier gas in the flow tube of a SIFT-MS instrument, and an apparatus to carry out the method. The method applies an electrical potential to the flow tube to lower the diffusive loss of ions within the flow tube. The lowered diffusive loss of ions increases the sensitivity of the technique.
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