发明申请
- 专利标题： METHODS OF DIAGNOSING INSULIN RESISTANCE AND SENSITIVITY
- 专利标题（中）： 诊断胰岛素抵抗和敏感性的方法
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申请号： US13126695申请日： 2009-10-30
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公开(公告)号： US20120088245A1公开(公告)日： 2012-04-12
- 发明人: Jerome I. Rotter , Kent D. Taylor , Xiuqing Guo , Mark O. Goodarzi , Yii-Der I. Chen , Leslie Raffel , Thomas A. Buchanan , Anny Xiang
- 申请人： Jerome I. Rotter , Kent D. Taylor , Xiuqing Guo , Mark O. Goodarzi , Yii-Der I. Chen , Leslie Raffel , Thomas A. Buchanan , Anny Xiang
- 申请人地址： US CA Los Angeles
- 专利权人： CEDARS-SINAI MEDICAL CENTER
- 当前专利权人： CEDARS-SINAI MEDICAL CENTER
- 当前专利权人地址： US CA Los Angeles
- 国际申请： PCT/US09/62835 WO 20091030
- 主分类号： C12Q1/68
- IPC分类号： C12Q1/68
摘要：
Methods of diagnosing susceptibility to metabolic insulin resistance and other related conditions are disclosed. The method provides means of diagnosing susceptibility to insulin resistance in Hispanic Americans by determining the presence of a risk haplotype at the LPL locus, the LPIN1 locus, and/or elevated levels of gamma-glutamyl transferase.
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