发明授权
- 专利标题： Dynamic RAM device having a separate test mode capability
- 专利标题（中）： 具有单独测试模式能力的动态RAM设备
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申请号： US41070申请日： 1987-04-22
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公开(公告)号： US4811299A公开(公告)日： 1989-03-07
- 发明人: Kazuyuki Miyazawa , Katsuhiro Shimohigashi , Jun Etoh , Katsutaka Kimura
- 申请人： Kazuyuki Miyazawa , Katsuhiro Shimohigashi , Jun Etoh , Katsutaka Kimura
- 申请人地址： JPX Tokyo
- 专利权人： Hitachi, Ltd.
- 当前专利权人： Hitachi, Ltd.
- 当前专利权人地址： JPX Tokyo
- 优先权： JPX61-92056 19860423
- 主分类号： G11C11/401
- IPC分类号： G11C11/401 ; G01R31/317 ; G11C29/00 ; G11C29/14 ; G11C29/46 ; G11C7/00 ; G11C8/00
摘要：
Disclosed is a dynamic RAM device capable of initiating and cancelling the test mode in response to the combinations of the row address and column address strobe signals with the write enable signal, which combinations are left unused in the normal operating mode, instead of increasing the number of external control signals.
公开/授权文献
- US4311884A Miniature sealed dual-in-line switch 公开/授权日：1982-01-19
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