发明授权
- 专利标题： Customized method and apparatus for streamlined testing a particular electrical circuit
- 专利标题（中）： 用于精简测试特定电路的定制方法和设备
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申请号： US515397申请日： 1995-08-15
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公开(公告)号： US5677915A公开(公告)日： 1997-10-14
- 发明人: Lee D. Whetsel
- 申请人： Lee D. Whetsel
- 申请人地址： TX Dallas
- 专利权人： Texas Instruments Incorporated
- 当前专利权人： Texas Instruments Incorporated
- 当前专利权人地址： TX Dallas
- 主分类号： G01R31/3185
- IPC分类号： G01R31/3185 ; G01R31/28
摘要：
A control circuit is customized for use with a particular circuit under test, and permits testing of the circuit without cycling through multiple data register shift operations required by conventional test architectures.
公开/授权文献
- US5024613A Blood recovery system and method 公开/授权日：1991-06-18
信息查询
IPC分类:
