发明授权
- 专利标题： Orthogonal ion sampling for APCI mass spectrometry
- 专利标题（中）： APCI质谱的正交离子采样
-
申请号： US794248申请日： 1997-02-03
-
公开(公告)号： US5750988A公开(公告)日： 1998-05-12
- 发明人: James A. Apffel , Mark H. Werlich , James L. Bertsch , Paul C. Goodley
- 申请人： James A. Apffel , Mark H. Werlich , James L. Bertsch , Paul C. Goodley
- 申请人地址： CA Palo Alto
- 专利权人： Hewlett-Packard Company
- 当前专利权人： Hewlett-Packard Company
- 当前专利权人地址： CA Palo Alto
- 主分类号： G01N30/72
- IPC分类号： G01N30/72 ; H01J49/04 ; H01J49/26
摘要：
A method apparatus wherein a plurality of electric fields and of orthogonal spray configurations of vaporized analyte are so combined as to enhance the efficiency of analyte detection and mass analysis. The method and apparatus provides reduced noise and increased signal sensitivity in both API electrospray and APCI operating modes.
公开/授权文献
- US5256701A Disinfectant composition 公开/授权日：1993-10-26
信息查询
