发明授权
- 专利标题： Test apparatus with voltage margin test
- 专利标题（中）： 具有电压裕度测试的测试装置
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申请号： US13316373申请日： 2011-12-09
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公开(公告)号： US08896332B2公开(公告)日： 2014-11-25
- 发明人: Masahiro Ishida , Daisuke Watanabe , Toshiyuki Okayasu , Kiyotaka Ichiyama
- 申请人： Masahiro Ishida , Daisuke Watanabe , Toshiyuki Okayasu , Kiyotaka Ichiyama
- 申请人地址： JP Tokyo
- 专利权人： Advantest Corporation
- 当前专利权人： Advantest Corporation
- 当前专利权人地址： JP Tokyo
- 代理机构： Ladas & Parry, LLP
- 主分类号： G01R31/00
- IPC分类号： G01R31/00 ; G01R31/26
摘要：
A pattern generator generates a pattern signal which represents a test signal to be supplied to a DUT. A driver generates a test signal having a level that corresponds to the pattern signal, and outputs the test signal thus generated to the DUT. A voltage modulator changes, in a predetermined voltage range, the voltage level of the test signal output from the driver DR.
公开/授权文献
- US20130147499A1 TEST APPARATUS AND TEST METHOD 公开/授权日：2013-06-13
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