Systems and methods for short media defect detection using multi-iteration soft data feedback

Invention Grant

US09245586B2 Systems and methods for short media defect detection using multi-iteration soft data feedback 有权

Title translation: 使用多次迭代软数据反馈进行短介质缺陷检测的系统和方法

Patent Title: Systems and methods for short media defect detection using multi-iteration soft data feedback
Patent Title (中): 使用多次迭代软数据反馈进行短介质缺陷检测的系统和方法
Application No.: US13654706

Application Date: 2012-10-18
Publication No.: US09245586B2

Publication Date: 2016-01-26
Inventor: Wu Chang , Fan Zhang , Weijun Tan , Shaohua Yang
Applicant: LSI Corporation
Applicant Address: SG Singapore
Assignee: Avago Technologies General IP (Singapore) Pte. Ltd.
Current Assignee: Avago Technologies General IP (Singapore) Pte. Ltd.
Current Assignee Address: SG Singapore
Main IPC: H03M13/00
IPC: H03M13/00 ; G11B27/36 ; G11B20/18

Abstract:

Various systems and methods for media defect detection.

Abstract(Chinese):

用于介质缺陷检测的各种系统和方法。

Public/Granted literature

Information query

Espacenet

IPC分类:

H	电学
H03	基本电子电路
H03M	一般编码、译码或代码转换（用射流方法入F15C4/00；光学模/数转换器入G02F7/00；专用于特殊应用的编码、译码或代码转换见有关小类，例如G01D，G01R，G06F，G06T，G09G，G10L，G11B，G11C，H04B，H04L，H04M，H04N；专用于密码技术或涉及需要保密的其他目的的编码或译码入G09C）
H03M13/00	用于检错或纠错的编码、译码或代码转换；编码理论基本假设；编码约束；误差概率估计方法；信道模型；代码的模拟或测试（用于模/数，数/模或代码转换的检错或纠错入H03M1/00至H03M11/00；专用于数字计算机的入G06F11/08；用于基于记录载体和传感器之间相对运动的信息存储器入G11B，例如G11B20/18；用于静态存储器的入G11C）