发明授权
- 专利标题： Goods inspection apparatus using distributed X-ray source
- 专利标题（中）： 商品检验仪器采用分布式X射线源
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申请号： US14134845申请日： 2013-12-19
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公开(公告)号： US09341736B2公开(公告)日： 2016-05-17
- 发明人: Huaping Tang , Yuanjing Li , Ziran Zhao , Yaohong Liu , Zhanfeng Qin , Jinyu Zhang , Hu Tang
- 申请人： NUCTECH COMPANY LIMITED , TSINGHUA UNIVERSITY
- 申请人地址： CN Beijing CN Beijing
- 专利权人： TSINGHUA UNIVERSITY,NUCTECH COMPANY LIMITED
- 当前专利权人： TSINGHUA UNIVERSITY,NUCTECH COMPANY LIMITED
- 当前专利权人地址： CN Beijing CN Beijing
- 代理机构： Casimir Jones, SC
- 优先权： CN201210588867 20121231
- 主分类号： G01N23/04
- IPC分类号： G01N23/04 ; G01V5/00
摘要：
This invention relates to an X-ray goods inspection apparatus, and in particular to a goods inspection apparatus using distributed X-ray source.
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