Invention Application
- Patent Title: 半導体装置及びその製造方法
- Patent Title (English): Semiconductor device and method for manufacturing the same
- Patent Title (中): 半导体器件及其制造方法
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Application No.: PCT/JP2009/058445Application Date: 2009-04-30
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Publication No.: WO2010125661A1Publication Date: 2010-11-04
- Inventor: 三浦 成久 , 中田 修平 , 大塚 健一 , 渡辺 昭裕 , 油谷 直毅
- Applicant: 三菱電機株式会社 , 三浦 成久 , 中田 修平 , 大塚 健一 , 渡辺 昭裕 , 油谷 直毅
- Applicant Address: 〒1008310 東京都千代田区丸の内二丁目7番3号 Tokyo JP
- Assignee: 三菱電機株式会社,三浦 成久,中田 修平,大塚 健一,渡辺 昭裕,油谷 直毅
- Current Assignee: 三菱電機株式会社,三浦 成久,中田 修平,大塚 健一,渡辺 昭裕,油谷 直毅
- Current Assignee Address: 〒1008310 東京都千代田区丸の内二丁目7番3号 Tokyo JP
- Agency: 高田 守
- Main IPC: H01L29/78
- IPC: H01L29/78 ; H01L29/12 ; H01L29/739
Abstract:
第1導電型の半導体基板の第1主面内のセル領域において表層に第2導電型の第1ウェルが形成されている。第1ウェル内において表層に第1導電型の拡散領域が形成されている。第1ウェル上に第1ゲート絶縁膜が形成され、その上に第1ゲート電極が形成されている。セル領域の外周部において第1主面の表層に第2導電型の第2ウェルが形成されている。第2ウェル上に第2ゲート絶縁膜が形成され、その外周側に厚いフィールド酸化膜が形成されている。ゲート絶縁膜及びフィールド酸化膜上に連続して、第1ゲート電極に接続された第2ゲート電極が形成されている。第1,第2ウェル及び拡散領域に第1電極が接続されている。半導体基板の第2主面に第2電極が形成されている。セル領域の外周を1周するようにフィールド酸化膜上に、第2ゲート電極に接続されたゲート配線が形成されている。ゲート配線は、第2ゲート電極の構成物質をシリサイド化させたものである。
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IPC分类: