Invention Application
- Patent Title: 基板加工方法及び半導体装置の製造方法
- Patent Title (English): Substrate processing method and method for producing semiconductor device
- Patent Title (中): 用于生产半导体器件的衬底处理方法和方法
-
Application No.: PCT/JP2014/004399Application Date: 2014-08-27
-
Publication No.: WO2015097942A1Publication Date: 2015-07-02
- Inventor: 赤坂 洋 , 池田 真義 , 木村 和弘 , 神谷 保志 , 豊里 智彦
- Applicant: キヤノンアネルバ株式会社
- Applicant Address: 〒2158550 神奈川県川崎市麻生区栗木2-5-1 Kanagawa JP
- Assignee: キヤノンアネルバ株式会社
- Current Assignee: キヤノンアネルバ株式会社
- Current Assignee Address: 〒2158550 神奈川県川崎市麻生区栗木2-5-1 Kanagawa JP
- Agency: 岡部 讓
- Priority: JP2013-267453 20131225
- Main IPC: H01L21/302
- IPC: H01L21/302 ; H01L21/28 ; H01L21/3213 ; H01L21/768
Abstract:
本発明は、スルーホールやビアホール等を構成する凹部の底部、側壁部及び上端部にまで亘って堆積膜を残存させつつも、凹部内に材料を十分に埋め込むことが可能となる、基板加工方法及び半導体装置の製造方法を提供することを目的とする。本発明の一実施形態に係る基板加工方法は、基板の凹部の開口部に形成された堆積膜に、基板面内方向に対して第1の角度の方向から粒子ビームを照射して、堆積膜の厚さ方向の一部を除去する第1の照射工程と、第1の照射工程の後に、第1の角度よりも基板面内方向に対してより垂直に近い第2の角度の方向から粒子ビームを照射して、残存する堆積膜の厚さ方向の一部を除去する第2の照射工程と、を有する。
Information query
IPC分类: