Invention Application
- Patent Title: 半導体装置及びその製造方法
- Patent Title (English): Semiconductor device and method for manufacturing same
- Patent Title (中): 半导体器件及其制造方法
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Application No.: PCT/JP2015/083340Application Date: 2015-11-27
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Publication No.: WO2016157616A1Publication Date: 2016-10-06
- Inventor: 吉田 基 , 岡部 博明 , 須賀原 和之
- Applicant: 三菱電機株式会社
- Applicant Address: 〒1008310 東京都千代田区丸の内二丁目7番3号 Tokyo JP
- Assignee: 三菱電機株式会社
- Current Assignee: 三菱電機株式会社
- Current Assignee Address: 〒1008310 東京都千代田区丸の内二丁目7番3号 Tokyo JP
- Agency: 稲葉 忠彦
- Priority: JP2015-066341 20150327
- Main IPC: H01L21/28
- IPC: H01L21/28 ; H01L21/312 ; H01L21/318 ; H01L21/3205 ; H01L21/329 ; H01L21/768 ; H01L23/522 ; H01L23/532 ; H01L29/06 ; H01L29/47 ; H01L29/872
Abstract:
ワイドバンドギャップ半導体を基材とする半導体素子(18)の上にめっき法によりCu配線電極(17)を形成する工程と、NH 3 雰囲気下でCu配線電極(17)を還元する還元工程と、還元工程と同時にCu配線電極(17)を加熱する加熱工程と、加熱工程の後にCu配線電極(17)を被覆する拡散防止膜(11)を形成する工程と、拡散防止膜(11)を有機樹脂膜(10)で被覆する封止工程とを備えたことを特徴とする半導体装置の製造方法。
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IPC分类: