Invention Application
- Patent Title: 電極および半導体装置の作製方法
- Patent Title (English): Electrode, and manufacturing method for semiconductor device
- Patent Title (中): 电极及半导体器件的制造方法
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Application No.: PCT/IB2016/055295Application Date: 2016-09-05
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Publication No.: WO2017046673A1Publication Date: 2017-03-23
- Inventor: 笹川慎也 , 栃林克明 , 飯田裕太
- Applicant: 株式会社半導体エネルギー研究所
- Applicant Address: 〒2430036 神奈川県厚木市長谷398 Kanagawa JP
- Assignee: 株式会社半導体エネルギー研究所
- Current Assignee: 株式会社半導体エネルギー研究所
- Current Assignee Address: 〒2430036 神奈川県厚木市長谷398 Kanagawa JP
- Priority: JP2015-185578 20150918
- Main IPC: H01L21/28
- IPC: H01L21/28 ; H01L21/336 ; H01L21/768 ; H01L21/8234 ; H01L21/8238 ; H01L21/8242 ; H01L21/8247 ; H01L23/522 ; H01L27/06 ; H01L27/08 ; H01L27/088 ; H01L27/092 ; H01L27/105 ; H01L27/108 ; H01L27/115 ; H01L27/146 ; H01L29/417 ; H01L29/423 ; H01L29/49 ; H01L29/786 ; H01L29/788 ; H01L29/792
Abstract:
微細なトランジスタを提供する。 または、 寄生容量の小さいトランジスタを提供する。 または、 周波 数特性の高いトランジスタを提供する。またはオン電流の大きなトランジスタを提供する。または、 該トランジスタを有する半導体装置を提供する。 または、 集積度の高い半導体装置を提供する。 また は、新規な電極を提供する。 第1の導電層の上方に絶縁層を形成し、 絶縁層の上方にマスク層を形成し、 マスク層上にリソグラフ ィー法によりレジストマスクを形成し、 レジストマスクの側面に生成物を形成し、 レジストマスクお よび生成物をエッチングマスクとして、 マスク層をエッチングし、 マスク層をエッチングマスクとし て、絶縁層を第1の導電層の上面に達するまでエッチングすることにより絶縁層に開口部を形成し、 開口部に第2の導電層を形成する電極を作製する。
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