Invention Application

測距装置および測距方法
Abstract:
本開示は、測距方式の異なる複数のセンサを組み合わせて使用しても、単一の測距方式のセンサを扱うように容易に制御することができるようにする測距装置および測距方法に関する。 iToFセンサ、dToFセンサ、およびミリ波センサなどの複数の測距センサの動作タイミングをブリッジ処理部が一括して制御し、複数の測距センサの測距結果を、デプスマップなどの共通の情報に変換する。本開示は、測距装置に適用することができる。
Patent Agency Ranking
0/0