Invention Application
- Patent Title: 半導体装置、撮像ユニット、内視鏡、および、半導体装置の製造方法
- Patent Title (English): SEMICONDUCTOR DEVICE, IMAGING UNIT, ENDOSCOPE, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICES
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Application No.: PCT/JP2021/030464Application Date: 2021-08-19
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Publication No.: WO2023021670A1Publication Date: 2023-02-23
- Inventor: 小林 慧一
- Applicant: オリンパス株式会社
- Applicant Address: 〒1928507 東京都八王子市石川町2951番地 Tokyo
- Assignee: オリンパス株式会社
- Current Assignee: オリンパス株式会社
- Current Assignee Address: 〒1928507 東京都八王子市石川町2951番地 Tokyo
- Agency: 弁理士法人イトーシン国際特許事務所
- Main IPC: H01L27/146
- IPC: H01L27/146 ; A61B1/05 ; H01L21/28 ; H01L21/3205 ; H01L21/60 ; H01L21/768 ; H01L23/522 ; H01L29/40 ; H04N5/369
Abstract:
撮像ユニット1は、第1の主面10SAと第2の主面10SBとを有し、第1の主面10SAに受光回路11が形成され、第2の主面10SBに開口を有するビアホールH10の内面に貫通配線50が配設されている撮像基板10と、ビアホールH10の周囲の第2の主面10SBおよびビアホールH10の中の底面から第2の主面10SBに達しない範囲に配設されている半田レジスト膜60と、ビアホールH10の中に配設されている半田レジスト膜60の表面を覆っており、ビアホールH10の開口の外縁において、半田レジスト膜60に覆われていない貫通配線50と接合されている半田からなる接合端子70と、を有する。
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IPC分类: