公开(公告)号：CN118643673A

公开(公告)日：2024-09-13

申请号：CN202411009215.X

申请日：2024-07-26

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 王弘剑 ,  林琦越 ,  黄文锋 ,  徐军军 ,  蔡伟 ,  李伟 ,  石高明 ,  周鑫鑫

IPC: G06F30/20 ,  G06F119/02

Abstract: 本申请涉及一种元器件失效分析方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取针对待分析元器件的多个失效信息和分析方式序列，将各失效信息分别进行词向量转化，得到各失效信息各自的失效词向量，针对分析方式序列中的每一分析方式，从各失效信息中，确定与分析方式匹配的目标信息，基于目标信息的失效词向量，对待分析元器件进行失效分析，确定待分析元器件对应于分析方式的失效现象，不限于只能从实际试验中得到待分析元器件的失效现象，采用上述方法，由于各失效现象中包含了各分析方式中的先后顺序，基于各分析方式各自对应的失效现象，确定待分析元器件的失效原因，提高了所得到的失效原因的准确性。