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公开(公告)号：CN117929807A
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202311860129.5
申请日：2023-12-31
摘要： 本申请涉及一种电压调整器测试装置。所述电压调整器测试装置包括：检测组件；测试子板，与待测电压调整器可拆卸连接，以使所述待测电压调整器的多个引脚分别与所述测试子板的多个触点对应连接；测试母板，所述测试母板包括引脚配置组件，所述测试母板与所述测试子板可拆卸连接，以使所述引脚配置组件的第一端分别与所述测试子板的多个触点连接，所述引脚配置组件的第二端与所述检测组件连接，所述引脚配置组件用于将所述检测组件的检测信号通过所述测试子板的多个触点传输至所述待测电压调整器，并将所述待测电压调整器反馈输出的测试信号传输至所述检测组件。本申请的电压调整器测试装置能够降低测试成本和提高检测进度。
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公开(公告)号：CN118169540B
公开(公告)日：2024-09-17
申请号：CN202410372081.1
申请日：2024-03-29
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本申请涉及元器件试验技术领域，涉及一种收发器应用验证板卡的试验方法、装置及计算机设备。所述方法包括：获取待测的收发器元器件的第一图像信息，为每个收发器元器件配置相应的试验程序并存储所述试验程序；在收发器元器件与应用验证板卡连接的情况下，获取所述应用验证板卡中收发器元器件的第二图像信息；在所述第一图像信息和所述第二图像信息比对成功的情况下，获取所述收发器元器件相应的试验程序；根据所述试验程序对所述收发器元器件进行试验。采用本方法能够提高试验效率，确保试验结果的准确性和可靠性。
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公开(公告)号：CN118643673A
公开(公告)日：2024-09-13
申请号：CN202411009215.X
申请日：2024-07-26
IPC分类号： G06F30/20 , G06F119/02
摘要： 本申请涉及一种元器件失效分析方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取针对待分析元器件的多个失效信息和分析方式序列，将各失效信息分别进行词向量转化，得到各失效信息各自的失效词向量，针对分析方式序列中的每一分析方式，从各失效信息中，确定与分析方式匹配的目标信息，基于目标信息的失效词向量，对待分析元器件进行失效分析，确定待分析元器件对应于分析方式的失效现象，不限于只能从实际试验中得到待分析元器件的失效现象，采用上述方法，由于各失效现象中包含了各分析方式中的先后顺序，基于各分析方式各自对应的失效现象，确定待分析元器件的失效原因，提高了所得到的失效原因的准确性。
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公开(公告)号：CN118277176A
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202410523485.6
申请日：2024-04-28
摘要： 本申请涉及器件测试技术领域，特别是涉及一种处理器可靠性测试方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：搭建待测数字信号处理器的测试板卡，设置所述测试板卡的试验参数；根据测试项目，获取相应的测试程序；设置不同测试环境条件，并运行相应的测试程序，对待测数字信号处理器进行可靠性测试；根据获得的测试数据，获取可靠性测试评估结果。采用本方法能够模拟真实应用场景中的恶劣环境，准确评估器件的性能表现，并提高测试效率和可靠性。
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公开(公告)号：CN116125237A
公开(公告)日：2023-05-16
申请号：CN202211516897.4
申请日：2022-11-30
摘要： 本申请涉及一种放大器辅助测试装置、放大器测试设备和系统，包括第一电源模块、第二电源模块和电源开关控制模块，第一电源模块用于连接待测放大器第一端，第二电源模块用于连接待测放大器的第二端，第二电源模块还通过电源开关控制模块接地；电源开关控制模块包括导通和断开两种工作模式。其中，当电源开关控制模块断开时，第二电源模块可以和第一电源模块一起对待测放大器进行供电。当电源开关控制模块导通时，第二电源模块与接地端之间短路，此时只有第一电源模块对待测放大器进行供电。综上所述，该放大器辅助测试装置可以通过开关控制模块的导通和断开来实现单双电源的切换，无需将电源线取下重新连接，提高了测试效率。
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公开(公告)号：CN115574981A
公开(公告)日：2023-01-06
申请号：CN202211411923.7
申请日：2022-11-11
IPC分类号： G01K15/00
摘要： 本发明涉及一种温度传感器的测试电路、集成测试电路和测试系统。所述测试电路包括：电源模块，与所述温度传感器连接，用于向所述温度传感器提供第一供电电压；处理模块，分别与所述电源模块、所述温度传感器连接，用于在所述电源模块提供的第二供电电压的作用下，控制所述电源模块向所述温度传感器提供所述第一供电电压，以及采集所述温度传感器在所述第一供电电压的作用下，处于工作状态的工作参数，所述工作参数至少包括供电工作电压。该测试电路可以获取温度传感器在工作状态下的电参数。
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公开(公告)号：CN117828576A
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202311846040.3
申请日：2023-12-29
摘要： 本申请涉及一种集成验证板卡系统及集成验证方法，该系统包括验证装置、信号中心和控制器；验证装置连接控制器和信号中心；验证装置还用于连接多个待验证器件；控制器还用于连接上位机；各待验证器件包括至少两种器件类型；控制器接收上位机发送的验证指令，基于验证指令确定验证信号，并将验证信号发送给验证装置；验证装置将验证信号施加至各待验证器件中的目标器件；目标器件的器件类型与验证信号的信号类型匹配；信号中心通过验证装置获取目标器件基于验证信号输出的反馈信号，将反馈信号发送至控制器；控制器基于验证信号和反馈信号进行信号分析，确定并向上位机反馈目标器件的验证结果。采用上述系统能够提高验证效率。
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公开(公告)号：CN117827559A
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202311668058.9
申请日：2023-12-07
IPC分类号： G06F11/22 , G06F11/273
摘要： 本申请涉及一种验证板卡和芯片验证系统，包括验证子板和验证母板，验证子板连接验证母板和被测芯片，验证子板用于接入被测芯片，并与验证母板匹配连接，验证母板用于对接入的被测芯片进行测试，并分析得到测试结果。通过将验证板卡拆分为验证母板和验证子板，设置能够与验证母板匹配连接的验证子板与被测芯片进行连接，将常用的测试功能设置于验证母板，由验证母板通过验证子板对被测芯片进行测试。在试验过程中，只需将对应的验证子板和验证母板连接就可以对被测芯片进行测试，不再需要为不同的被测芯片分别设置完整的验证板卡，减少了验证板卡的设计量，减少验证板卡的研发周期，缩短被测芯片的验证周期，提高验证效率。
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公开(公告)号：CN115537759A
公开(公告)日：2022-12-30
申请号：CN202211367527.9
申请日：2022-11-03
IPC分类号： C23C14/52
摘要： 本发明涉及一种观察窗挡板结构和真空镀膜设备。观察窗挡板结构包括挡板、轴套、连接杆、磁力驱动组件和锁止件；挡板与观察窗相对设置，且位于真空镀膜设备的炉腔内；轴套设于真空镀膜设备上；连接杆的第一端与挡板连接，连接杆的第二端活动插设于轴套；磁力驱动组件与轴套活动连接，用于通过磁力驱动连接杆绕其轴线转动，使得挡板相对于观察窗转动；锁止件用于限制磁力驱动组件相对于轴套的转动。由于观察窗挡板结构采用磁力驱动连接杆转动，磁力驱动组件只需要通过轴套与连接杆间隔连接，就能带动连接杆转动，因此可以保证炉腔内的真空度。同时锁止件能够防止非人为的外力带动挡板转动，进一步保证了挡板遮挡观察窗的有效性。
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公开(公告)号：CN115248225A
公开(公告)日：2022-10-28
申请号：CN202210900073.0
申请日：2022-07-28
IPC分类号： G01N23/2273 , H01R13/02 , H01R13/40
摘要： 本发明涉及一种电子能量分析装置。所述电子能量分析装置包括：栅网本体、导光组件电子检测组件，所述导光组件的出光端插入所述栅网本体中，所述栅网本体的栅网罩罩设在所述出光端的外部，所述导光组件射出的光线用于激发样品表面的电子，通过对所述栅网本体的栅网罩通电实现对所述电子进行筛选，所述电子检测组件位于所述栅网本体内，通过所述电子检测组件对所述电子进行电子检测。
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