一种滤光编码元件及其高光谱成像芯片和成像方法

    公开(公告)号:CN117470370A

    公开(公告)日:2024-01-30

    申请号:CN202311344753.X

    申请日:2023-10-16

    IPC分类号: G01J3/02 G01J3/28

    摘要: 本发明涉及高光谱成像技术领域,具体涉及一种滤光编码元件及其高光谱成像芯片和成像方法,所述滤光编码元件包括:X×Y组滤光单元,任一滤光单元具备过滤相同预设光谱滤光波段的能力;所述滤光单元包括a×b组滤光点,不同滤光点具有差异设置的吸收截止波长,用于实现对预设光谱滤光波段的覆盖。本发明基于滤光编码元件和高光谱成像方法获取的高光谱成像芯片,具有成像速度快、体积小、便于携带,适用性广、性能好等优点。

    一种光谱重构方法及计算光谱仪
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118332764A

    公开(公告)日:2024-07-12

    申请号:CN202410272476.4

    申请日:2024-03-11

    IPC分类号: G06F30/20 G06F17/16 G01J3/28

    摘要: 本发明提供了一种光谱重构方法及计算光谱仪,光谱重构方法包括以下步骤:将光谱重建问题用公式表示;对公式中的光谱变量x进行正则化约束后,对正则项使用ADMM进行约束,得到光谱重建问题的数学模型;输入正则化系数和ADMM中的拉格朗日迭代参数,以确定数学模型;更新数学模型中的变量;更新模型中正则项系数和拉格朗日迭代参数;判断是否满足迭代循环条件,若满足则更新模型中的变量,否则输出当前的光谱变量x,即获得重建后的光谱。在引入ADMM的同时,融合了正则化技术,从而在低信噪比下也具有良好的频谱恢复能力;通过插值,所述光谱重构方法可以减少预校准过程中的工作量,同时保持较高的光谱恢复性能,并能够提高光谱分辨率。

    一种基于光电二极管阵列的光谱仪及其制备和测试方法

    公开(公告)号:CN117470372A

    公开(公告)日:2024-01-30

    申请号:CN202311339022.6

    申请日:2023-10-16

    IPC分类号: G01J3/28

    摘要: 本发明涉及光谱分析技术领域,具体涉及一种基于光电二极管阵列的光谱仪及其制备和测试方法。所述一种基于光电二极管阵列的光谱仪,包括:阵列分布的光电二极管,不同光电二极管具有不同的光谱响应特征曲线。基于本发明提供一种基于光电二极管阵列的光谱仪,使光电二极管阵列中不同光电二极管具备不同的光谱响应特征曲线,实现对光谱较宽波段的全面响应,从而达成缩减光谱仪体积大小、扩展光谱仪的应用场景的目的。