一种基于灵活可配置模块的芯粒测试电路

    公开(公告)号:CN115295065B

    公开(公告)日:2022-12-13

    申请号:CN202211224306.6

    申请日:2022-10-09

    IPC分类号: G11C29/12 G01R31/28

    摘要: 本发明涉及超大规模集成电路可测性设计领域,公开了一种基于灵活可配置模块的芯粒测试电路,电路核心结构位于中介层,包括灵活可配置模块FCM、控制信号配置模块和测试状态控制模块;FCM采用双路斜对称结构,实现水平方向及垂直方向的数据传输;控制信号配置模块连接所有FCM的控制信号,控制着所有FCM的数据传输方向以及导通和截断状态;测试状态控制模块控制着FCM和控制信号配置模块内部数据的移位和更新操作。本发明可满足多种场景芯粒的测试需求,实现对原有DFT测试逻辑的复用,满足芯粒即插即用的策略,提升测试的灵活性和可控性。

    一种自参考宽带的毫米波倍频程压控振荡器

    公开(公告)号:CN117240218A

    公开(公告)日:2023-12-15

    申请号:CN202311030883.6

    申请日:2023-08-16

    IPC分类号: H03B5/06 H03B5/12 H03G3/30

    摘要: 本发明提供一种自参考宽带的毫米波倍频程压控振荡器,包括振荡器内核电路,模式切换开关电路,模式控制电路,耦合电容电路和谷值电压检测电路;压控振荡器上电时,模式控制电路产生模式控制信号,模式切换开关根据模式控制信号控制压控振荡器的工作模式,模式控制电路根据控制压控振荡器的工作模式产生电流控制信号,控制振荡器内核电路中输入电流的大小;谷值电压检测电路检测振荡器内核电路的谷值电压,并反馈至振荡器内核电路,使得压控振荡器快速地完成起振;当压控振荡器起振完成之后,谷值电压检测电路反馈至振荡器内核电路的谷值电压降低,使得跨导降低到合适的维持振荡所需的大小。本发明提高了压控振荡器的相噪表现。

    一种基于电感的同步开关翻转整流电路翻转电感复用方法

    公开(公告)号:CN116582025A

    公开(公告)日:2023-08-11

    申请号:CN202310420370.X

    申请日:2023-04-19

    摘要: 本发明公开了一种基于电感的同步开关翻转整流电路翻转电感复用方法,包括以下步骤:在已有的基于电感的同步开关翻转整流电路基础上,增设开关S1、S2、两个压电换能器作为压电换能电路,以及压电换能器选择电路;过零检测电路检测到翻转时刻后,输出两个连续且相同宽度的脉冲信号;当所述两个脉冲信号在压电换能器选择电路中经“非”处理后分别控制开关S1、S2来保证两个压电换能器在不同时刻接入电路;当所述两个脉冲信号在压电换能器选择电路中经“与”处理后输出接到开关驱动电路的输入端,并控制翻转电感电路中的开关S3的通断,实现电荷翻转。本发明在不大幅增加电路尺寸的基础上实现更高功率的压电能量收集前端电路的输出功率。

    一种基于相位误差自动校正的高频晶体振荡器

    公开(公告)号:CN115498998B

    公开(公告)日:2023-02-21

    申请号:CN202211419950.9

    申请日:2022-11-14

    IPC分类号: H03L7/081 H03B5/06 H03B5/32

    摘要: 本发明公开了一种基于相位误差自动校正的高频晶体振荡器,包括高频晶体、负载电容、两个单刀双掷开关、环形振荡器、8分频电路、扭环形计数器、峰值检测器、缓冲器、数字模块、多路选择器和放大器,本发明在电路对高频晶体进行能量注入的同时,检测注入信号与晶体振荡信号之间的相位误差并自动校正,使相位误差始终小于45°。本发明保证了高频晶体内部能量持续高效的线性增长,大大降低晶体达到稳定振荡幅度所需的启动时间,实现快速启动;且基于相位误差自动校正技术,本发明在极大地降低启动时间的同时,大幅降低了产生能量注入信号的信号源频率精度要求,本发明显著地提升了芯片良率。

    一种基于灵活可配置模块的芯粒测试电路

    公开(公告)号:CN115295065A

    公开(公告)日:2022-11-04

    申请号:CN202211224306.6

    申请日:2022-10-09

    IPC分类号: G11C29/12 G01R31/28

    摘要: 本发明涉及超大规模集成电路可测性设计领域,公开了一种基于灵活可配置模块的芯粒测试电路,电路核心结构位于中介层,包括灵活可配置模块FCM、控制信号配置模块和测试状态控制模块;FCM采用双路斜对称结构,实现水平方向及垂直方向的数据传输;控制信号配置模块连接所有FCM的控制信号,控制着所有FCM的数据传输方向以及导通和截断状态;测试状态控制模块控制着FCM和控制信号配置模块内部数据的移位和更新操作。本发明可满足多种场景芯粒的测试需求,实现对原有DFT测试逻辑的复用,满足芯粒即插即用的策略,提升测试的灵活性和可控性。