-
公开(公告)号：CN117555034A
公开(公告)日：2024-02-13
申请号：CN202311829691.1
申请日：2023-12-28
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC分类号： G01V5/22
摘要： 本发明涉及一种检测系统，包括第一射线源、第二射线源、第一探测器、第二探测器、第三探测器和第四探测器，第一射线源和第二射线源均被配置为向被检物发射射线，第一探测器设置于被检物的远离第一射线源的一侧，第一探测器被配置为接收第一射线源发射的穿透被检物的射线，第二探测器设置于被检物的远离第二射线源的一侧，第二探测器被配置为接收第二射线源发射的穿透被检物的射线，第三探测器与第一射线源设置于被检物的同侧，第三探测器被配置为接收第一射线源发射的经被检物散射后的射线，第四探测器与第二射线源设置于被检物的同侧，第四探测器被配置为接收第二射线源发射的经被检物散射后的射线。
-
公开(公告)号：CN117784266A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311841468.9
申请日：2023-12-28
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
摘要： 本公开提供了一种辐射检测系统，涉及辐射检测领域、安全检查领域或其他领域。该辐射检测系统包括第一射线扫描设备和第二射线扫描设备。第一射线扫描设备包括第一靶点，所述第一靶点发出射线用以扫描对象的第一区域；第二射线扫描设备包括第二靶点，所述第二靶点相比所述第一靶点更接近地面，所述第二靶点发出的射线用以扫描所述对象的第二区域；其中，所述第二区域中至少部分区域位于所述第一区域之外，且所述至少部分区域在竖直方向上位于所述第一区域的下方。本公开还提供了一种辐射检测装置。
-
公开(公告)号：CN117784265A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311835696.5
申请日：2023-12-28
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
摘要： 本公开涉及一种辐射检查系统，用于对被检对象(101)进行扫描检查，辐射检查系统包括：第一光源(1)，包括沿高度方向(z)间隔设置的多个子光源(11)，多个子光源(11)被配置为独立发出射线束；透射探测器组件(2)，与第一光源(1)沿第一方向(x)相对间隔设置形成检查通道(3)，检查通道(3)用于供被检对象(101)通过且沿第二方向(y)延伸，透射探测器组件(2)被配置为接收第一光源(1)的透射光束；和准直器(4)，位于第一光源(1)和透射探测器组件(2)之间且靠近第一光源(1)所在侧，准直器(4)设有沿高度方向(z)设置的多个准直口(41)，多个准直口(41)被配置为限制多个子光源(11)发出光束的形状。
-
公开(公告)号：CN109990744B
公开(公告)日：2020-09-11
申请号：CN201910275709.5
申请日：2019-04-08
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01B15/00
摘要： 本发明公开了一种体积测量方法、装置、系统和计算机可读存储介质，涉及辐射领域。体积测量方法，包括：根据从加速器靶点发射的多条X射线的测量结果，确定被测对象在每条X射线所在方向上的厚度；根据位于被测对象的同一个截面的每条X射线对应的厚度，确定相应截面的面积；根据被测对象的截面的面积确定被测对象的体积。通过将X射线扫描应用于体积测量中，可以通过X射线的测量结果获得被测对象的物质类型和多个位置、角度的尺寸信息，从而可以更准确地测量被测对象的体积。
-
公开(公告)号：CN117784267A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311841945.1
申请日：2023-12-28
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
摘要： 本公开提供了一种辐射检测方法，涉及辐射检测领域、安全检查领域或其他领域。该方法用于包括第一靶点的第一射线扫描设备和包括第二靶点的第二射线扫描设备，具体包括：控制所述第一靶点扫描对象的第一区域，得到第一图像；控制所述第二靶点扫描所述对象的第二区域，得到第二图像，所述第二靶点相比所述第一靶点更接近地面；其中，所述第二区域中至少部分区域位于所述第一区域之外，且所述至少部分区域在竖直方向上位于所述第一区域的下方。能够提高扫描覆盖率，实现扫描对象上全部目标区域，达到理想的扫描效果。本公开还提供了一种辐射检测装置、设备和存储介质。
-
公开(公告)号：CN109990744A
公开(公告)日：2019-07-09
申请号：CN201910275709.5
申请日：2019-04-08
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01B15/00
摘要： 本发明公开了一种体积测量方法、装置、系统和计算机可读存储介质，涉及辐射领域。体积测量方法，包括：根据从加速器靶点发射的多条X射线的测量结果，确定被测对象在每条X射线所在方向上的厚度；根据位于被测对象的同一个截面的每条X射线对应的厚度，确定相应截面的面积；根据被测对象的截面的面积确定被测对象的体积。通过将X射线扫描应用于体积测量中，可以通过X射线的测量结果获得被测对象的物质类型和多个位置、角度的尺寸信息，从而可以更准确地测量被测对象的体积。
-
公开(公告)号：CN109613031A
公开(公告)日：2019-04-12
申请号：CN201910009048.1
申请日：2019-01-04
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC分类号： G01N23/203 , G01N23/20008 , G01V5/00
摘要： 本公开提供一种背散射检查系统和背散射检查方法，背散射检查系统包括机架和背散射检查装置。机架包括相对于地面竖直或倾斜设置的轨道，所述轨道围成的空间形成检查通道；背散射检查装置包括背散射射线发射装置和背散射探测器，所述背散射检查装置可移动地设在所述轨道上，用于检查通过所述检查通道的被检物。该背散射检查系统能够对被检物的多个表面进行背散射检查。
-
公开(公告)号：CN117191833A
公开(公告)日：2023-12-08
申请号：CN202311047705.4
申请日：2023-08-18
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC分类号： G01N23/20 , G01N23/20016 , G01N23/20008
摘要： 提供了一种对象扫描装置，涉及射线扫描领域。该对象扫描装置包括：对象识别模块，被配置为在扫描前预先识别被检对象的尺寸信息；控制模块，被配置为根据所述尺寸信息确定移动设备的移动行程；所述移动设备，与所述背散射成像设备连接，被配置为在所述移动行程内带动所述背散射成像设备沿预定方向移动；所述背散射成像设备，被配置为在沿所述预定方向移动过程中，扫描所述被检对象的底部，以获得背散射图像。能够兼容多种类别或尺寸的被检对象，均可进行底部扫描，可以根据背散射图像实现安全检查、物体识别、材料分析和无损检测等目的，具有较广的使用范围。
-
公开(公告)号：CN116184516A
公开(公告)日：2023-05-30
申请号：CN202211724738.3
申请日：2022-12-30
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
摘要： 本申请涉及检查系统及其安装方法。检查系统包括：第一成像系统，包括：第一舱体以及平台组件，平台组件为一体式n型平台，该一体式n型平台具有平台结构和位于平台结构两侧的第一竖臂结构和第二竖臂结构，第一舱体附接于平台结构上，第一探测器组件被设置在平台组件中；以及第二成像系统，包括：第二舱体、上臂架和竖臂架，上臂架为一体式n型臂架，上臂架的第三竖臂结构与第二舱体附接，上臂架的第四竖臂结构与竖臂架的上端附接，第二舱体的侧部、竖臂架和上臂架中的至少一者包括第二探测器组件，其中平台组件的第一竖臂结构附接到第二舱体。
-
公开(公告)号：CN114157817A
公开(公告)日：2022-03-08
申请号：CN202111680657.3
申请日：2021-12-31
申请人： 同方威视科技(北京)有限公司 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 公开了一种车辆的全景拼接系统，该系统包括：支撑框架；至少三个面阵相机，设置于支撑框架上，面阵相机用于按照预设帧率分别在不同方向上拍摄车辆的多个外形图像；以及全景拼接装置，与面阵相机通信连接，用于根据每个面阵相机拍摄的相邻两个外形图像中的共同特征，利用光流法将多个外形图像拼接成子图像，进而根据多个子图像拼接成车辆的全景图像。通过将面阵相机安装在支撑框架上，便于全景拼接装置将面阵相机拍摄的外形图像拼接成全景图像，降低了车辆外形图像的拍摄成本。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
搜索结果
152 条记录 (耗时 0.067 秒)
