基于机器视觉的自定位导引的光学检测芯片及检测系统

    公开(公告)号:CN118275432A

    公开(公告)日:2024-07-02

    申请号:CN202410408909.4

    申请日:2024-04-07

    摘要: 本发明公开了基于机器视觉的自定位导引的光学检测芯片及检测系统,其芯片包括:起始检测单元、检测单元、样品区域单元、定位标记单元、导航单元和终止运动单元;所述起始检测单元,用于读取二维码图案和设置识别标记及机器扫描时候的空间扫描步长;所述检测单元,用于定位所述识别标记、导航所述识别标记和定位样品区域;所述样品区域单元,用于提供样品放置区域;所述定位标记单元,用于确定所述检测单元的位置;所述导航单元,用于导航所述检测单元的下一步运动方向;所述终止运动单元,用于终止所述检测单元运动。本发明有效提高检测的自动化水平和检测效率。

    一种基于ELISA的暗场基底和颗粒修饰的检测方法

    公开(公告)号:CN118033121A

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202410193816.4

    申请日:2024-02-21

    摘要: 本发明提出了一种利用ELISA来检测暗场基底和颗粒修饰效果的方法,在一级抗体包被的基底和修饰的微纳颗粒中加入酶标二级抗体,随后加入显色底物,根据显色程度来判断暗场基底和颗粒的一级抗体包被和修饰效果。主要实验方法如下:对负载在硅片、玻璃片或PET板等载体的金基底进行一级抗体包被,同时对贵金属、PS小球、PMMA小球等微纳颗粒进行一级抗体修饰;将修饰后的金基底和微纳颗粒与酶标二级抗体进行特异性反应;向反应后的金基底和微纳颗粒中加入显色剂,根据显色结果来判断金基底和微纳颗粒的一级抗体的包被和修饰效果。