一种基于ELISA的暗场基底和颗粒修饰的检测方法

    公开(公告)号:CN118033121A

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202410193816.4

    申请日:2024-02-21

    摘要: 本发明提出了一种利用ELISA来检测暗场基底和颗粒修饰效果的方法,在一级抗体包被的基底和修饰的微纳颗粒中加入酶标二级抗体,随后加入显色底物,根据显色程度来判断暗场基底和颗粒的一级抗体包被和修饰效果。主要实验方法如下:对负载在硅片、玻璃片或PET板等载体的金基底进行一级抗体包被,同时对贵金属、PS小球、PMMA小球等微纳颗粒进行一级抗体修饰;将修饰后的金基底和微纳颗粒与酶标二级抗体进行特异性反应;向反应后的金基底和微纳颗粒中加入显色剂,根据显色结果来判断金基底和微纳颗粒的一级抗体的包被和修饰效果。