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公开(公告)号:CN104390706B
公开(公告)日:2019-07-09
申请号:CN201410494107.6
申请日:2007-01-10
Applicant: 科罗赖特有限公司
CPC classification number: A45D44/005 , A45D2044/007 , G01J3/28 , G01J3/46 , G01J3/462 , G01J3/463 , G01N21/84 , G01N2021/8444
Abstract: 用于对具有两种发色混合物以及代表两种颜色总光谱的头发混合物样本进行分析的设备。该设备包括:配置成从至少一光谱的第一组中选择代表头发混合物中第一颜色的第一光谱的第一颜色选择器,以及迭代光谱组合器,其与第一颜色选择器相连并配置成与从第一光谱之上的第二组光谱选择的头发混合物中代表第二颜色的第二光谱迭代组合,因此以便得到其最接近匹配总光谱的第一和第二光谱的最佳组合。
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公开(公告)号:CN105424188B
公开(公告)日:2019-06-14
申请号:CN201510473871.X
申请日:2015-08-05
Applicant: 马克西姆综合产品公司
IPC: G01J3/36
CPC classification number: G01J1/0233 , G01J1/0266 , G01J1/08 , G01J1/4228 , G01J1/429 , G01J3/28 , G01J2001/4266
Abstract: 本公开内容描述了用于评估在环境光中的光谱贡献的系统、方法和设备。本公开内容还描述了用于补偿视角误差的系统、方法和设备,所述视角误差由以下因素引起:用户、环境结构(例如,建筑物、树、固定装置或地质构造)、大气效应(例如,臭氧覆盖范围、烟、浓雾、薄雾或云)、设备结构,和/或设备相对于正被测量的光源(例如,太阳、室内/室外光辐射器或至少部分反射的表面)的方向/倾斜。本公开内容还描述了用于评估光测量结果或颜色测量结果中的光谱贡献以及说明视场误差的原因以便获得精确的评估的系统、方法和设备。
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公开(公告)号:CN109115715A
公开(公告)日:2019-01-01
申请号:CN201810643461.9
申请日:2018-06-21
Applicant: 住友电气工业株式会社
Inventor: 福冈隆
IPC: G01N21/3504
CPC classification number: G01N21/1702 , G01J3/10 , G01J3/28 , G01J3/42 , G01N21/3504 , G01N21/39 , G01N2021/399 , H01S5/06213 , H01S5/0622 , H01S5/06255 , H01S5/3401
Abstract: 本发明涉及分析仪、吸收特性计算电路、以及分析方法。一种分析仪,包括:量子级联激光器,其将周期驱动信号转换成激光;光接收器,其接收已通过样品的激光并输出取决于激光的强度检测信号;以及数据计算部分,其输出表示样品的吸收特性的信息。数据计算部分包括:延迟单元,其通过对参考驱动信号施加时间延迟来产生延时波形;加法单元,其通过将延时波形和检测信号相加来产生对称波形;时间反转单元,其通过对对称波形进行时间反转来产生时间反转波形;以及减法单元,其产生时间反转波形与对称波形之间的波形差。数据计算部分通过改变时间延迟来重复计算波形差,直到波形差最小。
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公开(公告)号:CN108931479A
公开(公告)日:2018-12-04
申请号:CN201810499653.7
申请日:2018-05-23
Applicant: 凯塞光学系统股份有限公司
Inventor: 达伦·席佩尔 , 约瑟夫·B·斯莱特 , 詹姆士·M·特德斯科
CPC classification number: G01J3/027 , G01J3/0264 , G01J3/28 , G01J3/42 , G01J2003/283
Abstract: 具有测量优化操作员辅助的光谱仪。本公开涉及帮助光谱仪的操作员进行样本的光谱测量的辅助机制和方法,该测量具有期望的质量。该方法使得能够快速简单地进行质量光谱测量,而无需事先了解样本的光谱或关于如何测量光谱的细节。数据质量得到改善,并且收集数据所需的时间减少。尽管详细公开了样本光学聚焦的具体示例,但是可以优化许多其他参数。
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公开(公告)号:CN108885138A
公开(公告)日:2018-11-23
申请号:CN201780020106.X
申请日:2017-03-15
Applicant: 浜松光子学株式会社
Abstract: 波形测量方法中,首先,将初始脉冲光(Lp)按每一个波长在空间上分散。其次,在偏振依赖型的SLM中使偏振面相对于调制轴方向倾斜的状态下,将初始脉冲光(Lp)输入至SLM,对沿调制轴方向的初始脉冲光(Lp)的第一偏振分量的相位光谱进行调制,由此,使由第一偏振分量构成的第一脉冲光(Lp1)、与由正交于该第一偏振分量的初始脉冲光(Lp)的第二偏振分量构成的第二脉冲光(Lp2)之间产生时间差。将各波长分量合成之后,向对象物(24)照射脉冲光(Lp1)、脉冲光(Lp2),并检测产生于对象物(24)的光。一边变更脉冲光(Lp1)、脉冲光(Lp2)的时间差,一边进行上述检测处理,根据检测结果求出脉冲光(Lp1)的时间波形。由此,实现能够减少因对象脉冲光与参照脉冲光的干涉引起的噪声的脉冲光的波形测量方法及波形测量装置。
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公开(公告)号:CN108732146A
公开(公告)日:2018-11-02
申请号:CN201810356158.0
申请日:2018-04-19
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor: 渡边康之
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01J3/4406 , G01J3/0254 , G01J3/027 , G01J3/18 , G01J3/28 , G01J2003/1213 , G01N21/31 , G01N21/645 , G01N2021/6417 , G01N2021/6419 , G01N2021/6421 , G01N2201/065
Abstract: 提供一种量子产率计算方法、荧光分光光度计以及存储介质,能够高精度地计算量子产率。在利用荧光分光光度计来计算量子产率时,校正处理部进行基于光子数(A1)和光子数(B1)来校正光子数(A2)的处理,光子数(A1)是空白测定状态下的激励光的光子数,光子数(B1)是样品测定状态下的激励光的光子数,光子数(A2)是空白测定状态下的荧光的光子数。因此,能够校正光子数(A2)来高精度地计算校正后背景光子数(A2′)。另外,量子产率计算处理部除了基于空白测定状态下的激励光的光子数(A1)和样品测定状态下的荧光的光子数(B2)以外,还基于校正后背景光子数(A2′)计算量子产率。因此,能够高精度地计算量子产率。
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公开(公告)号:CN108519157A
公开(公告)日:2018-09-11
申请号:CN201810219665.X
申请日:2018-03-16
Applicant: 武汉大学
Abstract: 本发明提出了一种用于光源检测的同色异谱光谱生成和评价方法及系统,通过在庞大的光谱库进行采样和筛选,利用颜色科学相关计算公式,结合基于单一光源下进行同色异谱程度评价的方法,实现了同色异谱的光谱生成。基于标准物体颜色光谱库进行采样,由于数据量很大,可以筛选得到具有较高参考价值的同色异谱色,提高了同色异谱集的准确性。在生成方面,实施方便。基于单一光源进行同色异谱评价,具有更高的独立性,减少了对测试光源的依赖性,满足对各种光源进行评价的需要,增加了光源评价的效率。
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公开(公告)号:CN104937395B
公开(公告)日:2018-07-31
申请号:CN201480005048.X
申请日:2014-01-14
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
CPC classification number: G01N21/3151 , A61B5/0507 , A61B5/082 , A61M2016/102 , A61M2016/103 , A61M2205/3313 , G01J3/108 , G01J3/28 , G01J3/42 , G01N21/274 , G01N21/3504 , G01N21/359 , G01N33/497 , G01N2021/3181 , G01N2021/8578 , G01N2201/0612 , G01N2201/062
Abstract: 通过红外光谱法执行气体测量,气体测量检测器被配置为监测在可呼吸气流的流路径(18)内的气体分子种类的水平,所述流路径(18)与对象的气道连通。除了使用单个源(20)来生成参考的电磁辐射以及测量波长,近红外电磁辐射源(22)被用于生成参考电磁辐射。所述检测器包括:第源(20),其被配置为发射中红外电磁辐射;第二源(22),其被配置为发射近红外电磁辐射;源光学器件(24),其被配置为将由所述第源和第二源发射的中红外电磁辐射和近红外电磁辐射组合成同轴射束,以及引导所述同轴射束穿过所述流路径(18);传感器光学器件(38),其被配置为接收已经贯穿所述流路径(18)的所述同轴射束中的电磁辐射,以及将接收到的电磁辐射分成第辐射和第二辐射,其中,所述第辐射包括中红外电磁辐射,所述第二辐射包括近红外电磁辐射;第辐射传感器(40),其被配置为接收所述第辐射,并且生成传达与在所述第辐射中的所述中红外电磁辐射的参数有关的信息的输出信号;第二辐射传感器(42),其被配置为接收所述第二辐射,并且生成传达与在所述第二辐射中的所述近红外电磁辐射的参数有关的信息的输出信号;以及处理器(36),其被配置为,基于由所述第辐射传感器(40)和所述第二辐射传感器(42)生成的所述输出信号,确定在所述流路径中所述可呼吸气流内的气体分子种类的水平,使得由所述第二辐射传感器(42)生成的所述输出信号被实施为补偿通过所述流路径的光损耗。优选地基于通过所述源(20)的电阻的测量补偿了所述源(20)的辐照度的波动,所述源(20)在测量波长处生成电磁辐射。
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公开(公告)号:CN108204788A
公开(公告)日:2018-06-26
申请号:CN201711363844.2
申请日:2017-12-18
Applicant: 大塚电子株式会社
CPC classification number: G01B11/0625 , G01J3/0248 , G01J3/0278 , G01J3/28 , G01J3/2803 , G01N21/255 , G01N21/8422 , G01N2021/6417 , G01B11/06 , G01M11/00
Abstract: 本发明使基于来自样本的光的样本的光学特性的测定容易进行。光学特性测定装置(1、1A)具备光学系统(12)、检测部(13)以及解析部(14)。光学系统对从样本(2)射入的检测光进行聚光。检测部对在样本与光学系统之间的光学距离相互不同的状态下经由光学系统射入的样本的检测光进行多次分光,生成表示各检测光的光谱的多个检测数据(D1)。解析部解析检测数据所示的光谱,测定样本的规定的光学特性。解析部基于多个检测数据中的检测光的大小,确定用于光学特性的测定的检测数据,基于所确定的检测数据,测定光学特性(S6、S6A)。
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公开(公告)号:CN108168698A
公开(公告)日:2018-06-15
申请号:CN201711467424.9
申请日:2017-12-28
Applicant: 南京航空航天大学
Inventor: 张寅
Abstract: 本发明公开了一种目标与背景融合辐射测量装置及测量方法,包括箱体、探测目标、观测系统、环境检测仪、烟雾制造器、加湿器、加热器、排气装置及PC机,箱体开设有多个气孔,烟雾制造器、加湿器、加热器、排气装置与各气孔相连,探测目标、观测系统及环境检测仪均置于箱体内,环境检测仪与PC机之间通过无线模块进行信号传输,环境检测仪将检测信号发送至PC机,PC机发送指令并控制烟雾制造器、加湿器、加热器、排气装置工作。本发明结构简单、经济可行;可以解决现有技术中必须对目标辐射和背景辐射分别进行探测的局限性,同时为实验室研究目标与背景融合算法提供实验验证。
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