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公开(公告)号:CN109682500A
公开(公告)日:2019-04-26
申请号:CN201811647159.7
申请日:2018-12-29
申请人: 泰安磐然测控科技有限公司
发明人: 徐军
IPC分类号: G01K15/00
CPC分类号: G01K15/007 , G01K15/002
摘要: 本发明公开了一种温度计量装置检定用扫描开关及利用该开关的检定系统和方法,包括主接线端子、分接线端子,主接线端子与标准电测仪器连接,分接线端子与被检传感器、标准传感器连接,主接线端子、分接线端子通过活动扫描开关导通连接,扫描开关还设置有温度控制器、开关阵列,温度控制器与开关阵列电路连接,开关阵列与分接线端子连接,温度控制器通过固态继电器与恒温源连接,温度控制器通过分接线端子与标准传感器或被检传感器连接,将旧系统的控温回路集成到扫描开关里,去掉控温传感器,同时对恒温源可不间断实时控温,结构简化、降低成本的同时,可有效的提高整个系统测量数据的精确性。
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公开(公告)号:CN109141683A
公开(公告)日:2019-01-04
申请号:CN201811184877.5
申请日:2018-10-11
申请人: 三峡大学
IPC分类号: G01K15/00
CPC分类号: G01K15/007
摘要: 一种线性温度传感器阵列的标定装置及方法,包括硬质管,固定架,线性传感器阵列,高精度铂金温度计,解调仪。将线性传感器与牵引绳固定,使传感器不受应力影响;将多个高精度铂金温度计固定在牵引绳上使其和待标定传感器的位置相同;固定架将塑料管竖直固定,底部封闭,从管口注满水,模拟实际静水中的测温环境;将固定好的线性传感器和温度计连同牵引绳一同放入塑料管中,保证传感器在标定的过程中处于伸直不受应力状态。通过外界环境的温度来改变塑料管中的温度。对比线性传感器和高精度铂金温度计的测量时间和温度值,标定传感器的温度曲线。本发明公开的线性温度传感器的标定装置及方法,克服了现有标定方法的精度低、一致性差、易受弯曲应力影响等问题,在高精度光纤光栅温度传感器标定中具有重要的应用价值。
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公开(公告)号:CN108393823A
公开(公告)日:2018-08-14
申请号:CN201810198535.2
申请日:2018-03-12
申请人: 安徽晶格尔电子有限公司
CPC分类号: B25B11/00 , G01K15/007
摘要: 本发明公开了一种热敏电阻夹紧装置的夹板,包括相互平行设置的底座和横梁,底座连接第一导轨,横梁连接第二导轨,第一导轨和第二导轨之间连接推杆,推杆一侧通过第三滑轨连接第一压板和第二压板,第一压板前侧和第二压板前侧的相对面均设有楔形面;第一压板上连接第一导套,第二压板上连接第二导套,第一导套和第二导套共同连接导杆,在导杆的两端均连接限位端盖,在第一导套和对应的限位端盖之间的导杆上套接复位弹簧,在第二导套和对应的限位端盖之间的导杆上套接另一个复位弹簧。本发明的优点:本装置通过一个气缸实现同时控制驱动第一加热板和第二加热板对热敏电阻的夹持和松开,与现有技术相比缩小了安装空间,方便其他部件的布置。
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公开(公告)号:CN108362401A
公开(公告)日:2018-08-03
申请号:CN201810103134.4
申请日:2018-02-01
申请人: 天津城建大学 , 天津求实飞博科技有限公司
IPC分类号: G01K15/00
CPC分类号: G01K15/007
摘要: 本发明公开一种光纤光栅温度传感器响应时间的测试方法,该测试方法是基于响应时间测试装置,主要包括:首先,将参考光纤光栅无拉伸地固定在光纤夹持器上,保持其中心波长为1525nm;其次,调节参考光纤光栅的中心波长与待测光纤光栅的波长相同;再次,开启宽带光源;然后,放入温箱中,设定所需的温度值50-100℃,温度稳定30分钟后,将待测光纤光栅放入温箱;数据采集卡将来自光电探测器的信号送入计算机进行分析,将采集卡采集到的信号归一化;最后待测光纤光栅的响应时间用时间常数τ衡量,定义为温度上升为稳态值的63.2%时所用的时间。本发明根据待测光纤光栅和参考光纤光栅反射谱的卷积运算得到,避免了解调仪对响应时间测试带来的影响,检测精度高。
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公开(公告)号:CN108318154A
公开(公告)日:2018-07-24
申请号:CN201810093021.0
申请日:2018-01-29
申请人: 广东美的暖通设备有限公司 , 美的集团股份有限公司
发明人: 梅利军
IPC分类号: G01K15/00
CPC分类号: G01K15/007 , G01K2207/00
摘要: 本发明公开了一种温度传感器故障诊断电路、方法及制冷设备,其中,温度传感器故障诊断电路包括控制器、温度传感器电路、切换电路及基准电路;温度传感器电路,用于采集环境温度;基准电路,用于提供基准信号;切换电路,用于在初始状态时,将温度传感器电路与控制器连接,在触发时切换为基准电路与控制器连接;控制器,用于在确定环境温度异常时,控制切换电路触发,以获取基准电路提供的基准信号,当基准信号的幅值在预设幅值范围内,判断为传感器故障,当基准信号的幅值不在预设幅值范围内,则判断为主板故障。本发明技术方案能够在出现故障时,机器先执行自检,细化故障区域,给出进一步的维修指导代码,提高维修效率。
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公开(公告)号:CN104241722B
公开(公告)日:2018-07-06
申请号:CN201410268778.0
申请日:2014-06-17
申请人: 福特全球技术公司
发明人: 罗伯特·C·基顿
IPC分类号: H01M10/48
CPC分类号: G01K15/007 , G01K2205/00
摘要: 电池组热敏电阻测试方法包括使电池组充电、监控在预定的时间周期内由电池组上的至少一个热敏电阻所报告的平均温度的上升、通过计算至少一个热敏电阻的时间对温度的最小二乘拟合来准备至少一个热敏电阻斜率,以及将至少一个热敏电阻斜率与过程定义的热敏电阻斜率范围作比较。
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公开(公告)号:CN107797015A
公开(公告)日:2018-03-13
申请号:CN201611144351.5
申请日:2016-12-13
申请人: 现代自动车株式会社
CPC分类号: G01K15/007 , G01K15/002 , G01K2205/00 , G01R31/025 , G01R31/2829 , H02P29/024 , H02P29/0241 , H02P29/68 , G01R31/04
摘要: 本发明提供了一种开关装置的温度传感器的故障诊断方法和系统。一种开关装置的温度传感器的故障诊断方法包括利用由开关装置的温度传感器检测的温度和用于冷却开关装置的冷却水的温度来设定采样周期。随后,在采样周期中,比较通过温度传感器检测的温度感测值与存储在存储器中的温度参考值,从而确定在温度传感器中是否发生故障。
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公开(公告)号:CN107796538A
公开(公告)日:2018-03-13
申请号:CN201710991206.9
申请日:2017-10-23
申请人: 崔小花
发明人: 崔小花
IPC分类号: G01K15/00
CPC分类号: G01K15/007
摘要: 本发明公开了一种带有散热风扇的温度传感器检测器,包括设在外壳内的主控电路单元、电压表、电流表、耐压检测电路单元、工频冲击检测单元、为测试系统提供直流电的电源电路单元和用于通断电源的继电器,所述主控电路单元向继电器发送通断控制指令,所述电压表和电流表分别采集耐压检测电路单元、工频冲击检测单元的电压、电流数据,并送入主控电路单元进行数据处理;所述外壳上设有散热风扇。由于采用上述的结构形式,可以很方便地对温度传感器的耐压、耐工频冲击等进行综合测试,并能有效地给检测器降温,避免了发热。
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公开(公告)号:CN107796536A
公开(公告)日:2018-03-13
申请号:CN201710991137.1
申请日:2017-10-23
申请人: 崔小花
发明人: 崔小花
IPC分类号: G01K15/00
CPC分类号: G01K15/007
摘要: 本发明公开了一种多功能温度传感器检测器,包括设在外壳内的主控电路单元、电压表、电流表、耐压检测电路单元、工频冲击检测单元、为测试系统提供直流电的电源电路单元和用于通断电源的继电器,主控电路单元向继电器发送通断控制指令,电压表和电流表分别采集耐压检测电路单元、工频冲击检测单元的电压、电流数据,并送入主控电路单元进行数据处理;还包括电阻表和零功率电阻检测电路单元,电阻表采集零功率电阻检测电路单元的电阻数据,并送入主控电路单元进行数据处理;外壳上设有散热风扇;外壳上还设有工作状态指示灯。由于采用上述的结构形式,可以很方便地对温度传感器的零功率电阻、耐压、耐工频冲击等进行综合测试。
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公开(公告)号:CN107748021A
公开(公告)日:2018-03-02
申请号:CN201710918000.3
申请日:2017-09-30
申请人: 中国计量大学
IPC分类号: G01K15/00
CPC分类号: G01K15/007
摘要: 本发明涉及一种基于FPGA的温度传感器动态测试方法。本发明利用FPGA控制器同时采集不同的温度传感器信号,实现不同种类的温度传感器动态特性的同步测试。使用FPGA控制器根据模块的采集通道,可以一次采集多种不同类型的温度传感器,并且可以根据不同温度传感器的特性设置不同采样时间,实现多个不同类型传感器动态特性的同步测试。计算机通过接口与FPGA控制器进行通信,使用相应识别算法自动分析传感器的动态特性。由于本发明利用控制器的FPGA的编译方法,提高了数据的实时性和精确性(μs级),并且利用了FPGA的并行运行的优点,多路信号可以同步采集。与传统的传感器动态测试方法相比,其大大提高了工作效率,获取数据期间产生的误差也得到了极大的改善。
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