公开(公告)号：CN105247355B

公开(公告)日：2018-07-31

申请号：CN201480030456.0

申请日：2014-03-11

申请人： 凯梅克有限责任公司

发明人： 埃卡德·布兰道

IPC分类号： G01N27/18 ,  G01K15/00

CPC分类号： G01N27/185 ,  G01K15/007 ,  G01N25/18 ,  G01N33/0027

摘要： 本发明提出种用于测量气体混合物的气体组份的导热能力以便确定气体组份的成分的装置,包括多个导热能力传感器(1),其中每个导热能力传感器(1)是电阻桥电路的组成部分并且与属于该装置的分析处理单元连接,其中按照本发明每个导热能力传感器(1)具有热元件(5)和集成的温度测量元件(6),该温度测量元件在导热能力传感器(1)由于通过气体混合物的热导出的温度变化时生成两个测量电压(UM3、UM2),所述测量电压在分析处理单元中比较以便确定测量误差。

公开(公告)号：CN107941359A

公开(公告)日：2018-04-20

申请号：CN201711116337.9

申请日：2017-11-13

申请人： 陕西高华知本化工科技有限公司

发明人： 刘秋丽

IPC分类号： G01K7/00 ,  G01K15/00

CPC分类号： G01K7/00 ,  G01K15/007

摘要： 一种温度检测系统，属于电子技术领域。其特征在于包括控制主机、显示屏、报警器、通信接口、控制器、温度测量模块和系统参数输入模块；温度测量模块和系统参数输入模块均与控制器相连接；显示屏与控制器相连接；报警器与控制器相连接；控制主机通过通信接口与控制器相连接。通过单总线式数字温度传感同其他智能芯片的结合形成的高精度温度检测系统，结合控制主机实现的便捷的温度检测与查看。本发明所述的温度检测系统，结构简单，易于操作，便于推广使用。

公开(公告)号：CN107907245A

公开(公告)日：2018-04-13

申请号：CN201711391489.X

申请日：2017-12-21

申请人： 山东农业大学

发明人： 张开兴 ,  宋超 ,  王洪波 ,  刘贤喜

IPC分类号： G01K15/00

CPC分类号： G01K15/007

摘要： 本发明提供了一种骤变温场铂电阻失效试验装置及试验方法，它包括电源、控制系统、压缩制冷系统、防冻液循环系统、水循环系统、加热系统、干体炉芯，所述的电源与控制系统连接，控制系统包括保护电路、控制电路，控制系统分别与压缩制冷系统、防冻液循环系统、水路循环系统、加热系统连接，控制压缩机制冷系统的开闭、防冻液循环系统与水循环系统的通断以及加热系统的功率调整；所述的压缩制冷系统与防冻液循环系统连接，用于防冻液的降温，该装置及方法模拟还原度高，保证试验效果真实性，试验效果更准确，数据记录更详尽，温场-40℃~300℃可选温度段，试验过程可实现自动控制，满足不同产品的试验要求。

公开(公告)号：CN107228718A

公开(公告)日：2017-10-03

申请号：CN201710301599.6

申请日：2017-05-02

申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心

发明人： 唐菱 ,  党钊 ,  汪凌芳 ,  陈骥 ,  彭志涛 ,  刘华 ,  王超 ,  李克洪 ,  王渊承 ,  齐珍 ,  周维 ,  粟敬钦 ,  胡东霞 ,  郑奎兴 ,  朱启华

IPC分类号： G01K15/00

CPC分类号： G01K15/007

摘要： 本发明属于半导体传感器领域，具体涉及一种热电堆检测装置。绝热工装为绝热材料材质，绝热工装内侧设置有下凹部和供加热导线引出的引线孔，下凹部内由底往上顺序设置有电加热部件和能够包覆待测电热堆侧面的绝热圈，绝热圈设置有供连接待测电热堆的测试导线穿出的孔，电加热部件通过加热导线连接有直流电源分析仪；导热工装为导热材料材质，盖合在所述绝热工装上，导热工装内侧设置有导热凹部和供测试导线引出的出线孔，所述导热凹部设置在导热工装内侧与下凹部对应的位置，待测电热堆通过测试导线连接A/D转换器的输入端。省去了传统装置中设置的对热电堆两端温度测量的装置，减少了测量数据，提高了电热堆检测的精确度。

公开(公告)号：CN104136891B

公开(公告)日：2017-09-15

申请号：CN201380004083.5

申请日：2013-09-06

申请人： 丹尼尔测量和控制公司

发明人： 劳森·拉姆齐

IPC分类号： G01F1/66 ,  G01F15/02

CPC分类号： G01F1/662 ,  G01F1/668 ,  G01F15/024 ,  G01F25/0007 ,  G01K11/24 ,  G01K13/02 ,  G01K15/007 ,  G01K2013/024

摘要： 用于校验超声流量计中的温度测量的设备和方法。超声流动计量系统包括用于流体流动的通道、温度传感器、超声流量计以及流动处理器。温度传感器布置成提供在该通道中流动的流体的测量温度。超声流量计构造成测量超声信号通过该流体的传送时间。流动处理器构造成：1)基于该传送时间算出声音通过该流体的速度；2)基于该声音的速度计算该流体的计算温度；3)基于计算温度与测量温度之间的历史差将补偿应用于温度校验参数；并且4)基于温度校验参数确定测量温度与计算温度之间的当前差是否在预定范围内。

公开(公告)号：CN104913803B

公开(公告)日：2017-09-08

申请号：CN201510106628.4

申请日：2015-03-11

申请人： 通用汽车环球科技运作有限责任公司

发明人： D.S.奥克斯 ,  B.A.韦尔什科

IPC分类号： G01D18/00 ,  G01K15/00

CPC分类号： G01K19/00 ,  G01K15/007 ,  G01K2205/00

摘要： 本发明提供使用动态阈值检测不稳定传感器的方法和系统。用于检测受监测的传感器的不稳定状态的系统和方法包括产生针对监测信号的变化值和针对估计信号的变化值，监测信号由受监测的传感器产生，估计信号基于由预测传感器产生的预测信号估计，其中，该预测信号为该监测信号的预测结果。所述监测信号可以基于系统操作条件快速波动。动态阈值基于所述估计变化值产生，并且监测信号与所述动态阈值比较以确定所述监测信号是否处于不稳定状态。该检测方法足够灵敏以区分该受监测的传感器的快速波动和不稳定状态。

公开(公告)号：CN106996838A

公开(公告)日：2017-08-01

申请号：CN201710390124.9

申请日：2017-05-27

申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所

发明人： 袁明 ,  李立功 ,  吴寅初 ,  孙福德 ,  闫继送 ,  施斌 ,  于文林 ,  陈晓峰 ,  徐瑞 ,  徐玉华 ,  毕宗义

IPC分类号： G01K15/00

CPC分类号： G01K15/005 ,  G01K15/007

摘要： 本发明涉及一种ROTDR性能指标自动测试校准系统及方法，该系统包括：系统主机，所述系统主机连接被测ROTDR的一端，被测ROTDR的另一端连接1×8低损耗光开关，所述1×8低损耗光开关的另一端第一通道至第八通道依次分别连接一个光纤温度系数被测光纤、六个不同长度的标准单模或多模光纤和一个标准光纤，所述1×8低损耗光开关第三通道至第七通道连接的标准单模或多模光纤的另一端分别连接长度相同或不同的光纤定长加热装置，所述光纤温度系数被测光纤缠绕于变长光纤测温夹具上，所述变长光纤测温夹具和1×8低损耗光开关的第二通道连接的标准单模或多模光纤均设置于高低温恒温箱内部，所述高低温恒温箱和光纤定长加热装置分别与所述系统主机连接。

公开(公告)号：CN106918354A

公开(公告)日：2017-07-04

申请号：CN201511000294.9

申请日：2015-12-28

申请人： 上海新微技术研发中心有限公司

发明人： 傅志军 ,  刘慧 ,  武洁

IPC分类号： G01D5/244 ,  G01D18/00 ,  G01K7/22 ,  G01K15/00

CPC分类号： G01D5/244 ,  G01D18/00 ,  G01K7/22 ,  G01K15/007

摘要： 本发明提供一种传感系统及所适用的感应信息确定方法。所述传感系统包括：传感装置和感应信息确定装置。其中，传感装置包括：由敏感电阻和电容串联构成的RC电路，RC电路的一端连接受控开关、另一端接地；其中，受控开关在预设电压和地线之间切换；信号监测电路，用于监测在RC电路充电期间输出复位信号；计数电路，用于在未复位期间计数时钟信号周期；晶体振荡器。所述感应信息确定装置包括：控制单元，用于监测所述RC电路在电容充电期间所输出的电压；当所监测的所述电容充电完成时，使电容放电；感应信息确定单元，用于在放电期间，根据预先标定的与量程相关的周期数，计算计数电路所提供的周期数量所对应的感应信息。本发明有效简化硬件和运算量。

公开(公告)号：CN106768487A

公开(公告)日：2017-05-31

申请号：CN201710029842.3

申请日：2017-01-16

申请人： 中国科学院半导体研究所

发明人： 王彦虎 ,  李文昌

IPC分类号： G01K15/00

CPC分类号： G01K15/005 ,  G01K15/007

摘要： 本发明提供了一种温度传感器芯片测试校准的温度环境的构建方法及系统。其中，所述方法包括：将立体器件的体对角线分割为至少一段子对角线；以所述子对角线为立体单元的体对角线划分，得到至少一个立体单元，即所述温度环境，所述立体单元的几何中心配置为所述温度传感器芯片。所述系统包含：温度测试校准组件和控制模块，用于监控、调整所述立体器件内部的温度，和测试校准温度传感器芯片。所述温度测试校准组件包括：立体器件，所述立体器件包括至少一个对立体器件划分得到的立体单元，立体单元的温度均匀度小于所述温度传感器芯片的温度精度的2倍；所述立体单元的几何中心配置为温度传感器芯片；温度测量器件，置于所述立体单元的各顶点。

公开(公告)号：CN106679849A

公开(公告)日：2017-05-17

申请号：CN201611177543.6

申请日：2016-12-19

申请人： 北京兆易创新科技股份有限公司

发明人： 郭凯

IPC分类号： G01K15/00

CPC分类号： G01K15/007

摘要： 本发明公开了一种MCU温度传感器的测试方法及装置，该方法包括：待测MCU预先写入温度环境的温度变化规律以及采样规律的数据；在启动测试后，所述待测MCU根据温度变化规律以及采样规律读取温度传感器的检测温度值；所述待测MCU对检测温度值进行处理。通过本发明的技术方案，能够降低测试复杂性，减少成本，提高测试效率。