验证平台、方法及电子设备

    公开(公告)号:CN108763743B

    公开(公告)日:2022-08-05

    申请号:CN201810521095.X

    申请日:2018-05-28

    IPC分类号: G06F30/398

    摘要: 本发明提供了一种验证平台、方法及电子设备,涉及芯片验证技术领域,包括:采样模块、参考模型、对比模块和多个外部接口驱动模块;每个外部接口驱动模块向待测设计DUT中与外部接口驱动模块连接的外部接口发送测试激励,使外部接口将测试激励发送给与外部接口对应的内部接口,进而使DUT根据测试激励生成第一输出结果;采样模块将从DUT的内部接口接收的测试激励发送给参考模型;以及将从内部接口接收的第一输出结果发送给对比模块;参考模型将根据测试激励生成的第二输出结果发送给对比模块;对比模块判断第一输出结果与第二输出结果是否一致。本发明的一种验证平台,无需对应每个外部接口配置监视器和记分板,大大节省工作量,提高验证效率。