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公开(公告)号：CN101769950B
公开(公告)日：2012-05-23
申请号：CN200910312697.5
申请日：2009-12-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R15/24
Abstract: 基于法拉第效应的全光纤差流测量装置，涉及光学控制领域，它解决现有的光在传播过程中光束受电磁干扰性强，并且采用数字信号判断光的偏转角度的准确率低，使用两台光电探测器的成本高的问题，其装置包括光源、光电探测器和晶体，还包括半波片、半透半反镜和全反镜，系统输入光束经晶体透射后获得振光束，偏振光束入射至半透半反镜；经半透半反镜入射的偏振光束出射反射光束和透射光束，系统输入光束经半波片透射后入射至晶体，经晶体透射后获得偏振光束，偏振光束入射至全反镜，经全反镜入射的偏振光束出射反射光束，所述经半透半反镜出射的透射光束与全反镜反射的反射光束汇聚至光电探测器的光输入端。本发明所述装置广泛应用于光的控制领域。
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公开(公告)号：CN102435829A
公开(公告)日：2012-05-02
申请号：CN201110334618.8
申请日：2011-10-28
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 北京许继电力光学技术有限公司
Abstract: 一种光学电压传感器及实现该传感器的自校准方法，涉及光学电压传感器及实现该传感器的自校准方法。它通过设计基准电压源，实现了光学电压传感器的自校准功能，解决现有光学电压传感器测量精度温度稳定性差的问题。本发明采用离散傅立叶算法得到电压信号的有效值，通过增加计算样本数和加窗处理来降低频率波动对有效值计算的影响，提高了自校准系数的稳定性。本发明所述的光学电流传感器解决了光学电压传感器测量结果受温度影响的缺点，经过测试，在-40～60℃的温度范围内测量精度达到了IEC 0.2级计量要求。本发明适用于电压互感器的设计中。
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公开(公告)号：CN102226818A
公开(公告)日：2011-10-26
申请号：CN201110075684.8
申请日：2011-03-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R15/24
Abstract: 基于泡克尔斯效应的全光学差动监测装置，涉及光学控制领域，它解决了现有的探测装置在探测过程中光束受电磁干扰严重，以及采用数字信号判断光的偏转角度的准确率低的问题。它的第一入射光束经第一电光晶体透射后获得第一偏振光束，再经一号半透半反镜分为反射光束和透射光束，反射光束沿与第一偏振光束的光轴垂直的方向出射；第二入射光束经半波片和第二电光晶体透射后获得第二偏振光束，再经一号全反镜反射获得反射光束，反射光束与经一号半透半反镜透射的透射光束汇聚至光电探测器的光输入端。本发明能够广泛应用于光的控制领域。
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公开(公告)号：CN101769950A
公开(公告)日：2010-07-07
申请号：CN200910312697.5
申请日：2009-12-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R15/24
Abstract: 基于法拉第效应的全光纤差流测量装置，涉及光学控制领域，它解决现有的光在传播过程中光束受电磁干扰性强，并且采用数字信号判断光的偏转角度的准确率低，使用两台光电探测器的成本高的问题，其装置包括光源、光电探测器和晶体，还包括半波片、半透半反镜和全反镜，系统输入光束经晶体透射后获得振光束，偏振光束入射至半透半反镜；经半透半反镜入射的偏振光束出射反射光束和透射光束，系统输入光束经半波片透射后入射至晶体，经晶体透射后获得偏振光束，偏振光束入射至全反镜，经全反镜入射的偏振光束出射反射光束，所述经半透半反镜出射的透射光束与全反镜反射的反射光束汇聚至光电探测器的光输入端。本发明所述装置广泛应用于光的控制领域。
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公开(公告)号：CN101587214A
公开(公告)日：2009-11-25
申请号：CN200910072372.4
申请日：2009-06-25
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 北京许继电力光学技术有限公司
IPC: G02B6/38
Abstract: 软体绝缘光纤绝缘子，它涉及一种绝缘光纤绝缘子。本发明解决了现有的光纤绝缘子存在绝缘性能差、光损耗大、加工复杂、成品率低和使用寿命短的问题。本发明的空心绝缘子的上端通过上金属法兰与上金属端盖固接，空心绝缘子的下端通过下金属法兰与下金属端盖固接，上金属端盖上开有多个通过孔和一个注胶孔，下金属端盖上开有多个通过孔，多根光纤跳线贯穿于空心绝缘子的内腔，多根光纤跳线与上金属端盖和下金属端盖的交界处各设置有一层密封胶，软体胶通过上金属端盖上的注胶孔注入空心绝缘子的内腔。本发明提高了光纤绝缘子的绝缘性能和使用寿命，大大减小了光损耗，简化了加工工艺，提高了产品的成品率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118607070A
公开(公告)日：2024-09-06
申请号：CN202410833723.3
申请日：2024-06-26
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/13 , G06F30/23 , G06N3/006 , G06F111/10 , G06F119/14
Abstract: 本发明提出一种计算地震响应的单体建筑简化模型的构建和修正方法，包括：步骤1：查阅‑建筑图纸或公开数据，获取建筑结构的基本信息；步骤2：基于建筑结构的基本信息构建初始单体建筑简化模型；步骤3：基于地震传感器获取监测信息，对监测信息进行预处理；步骤4：利用粒子群优化算法分阶段修正初始单体建筑简化模型，得到单体建筑简化模型。步骤5：将地震动时程记录输入单体建筑简化模型中计算结构各层弹性和弹塑性地震响应，并对修正结果进行评估。本发明基于监测数据修正模型，更适用于对结构信息不足的建筑进行地震响应计算，同时模型修正阶段粒子群算法采取并行计算确定结构参数，明显缩短计算时间。
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公开(公告)号：CN118545285A
公开(公告)日：2024-08-27
申请号：CN202410701031.3
申请日：2024-05-31
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明涉及飞行器续航技术领域，特别涉及一种无人机巡线自主续航装置及方法，其中，装置包括：CT取能模块，CT取能模块设置在目标杆塔的输电线路上，并与输电线路连接，以获取输电线路上的电能；蓄能模块，蓄能模块与CT取能模块连接，以储存电能；无线充电平台，无线充电平台设置在目标杆塔的架空线路上，以通过无线电能传输接收电能，并将电能传导至目标无人机。由此，解决了现有无人机续航方式需要另准备充电设施给无人机机巢充电，操作繁琐且耗时耗力等问题。
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公开(公告)号：CN109280789A
公开(公告)日：2019-01-29
申请号：CN201811216040.4
申请日：2018-10-18
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种原位亚微米颗粒增强细晶高强TiAl合金的制备方法，本发明涉及一种原位亚微米颗粒增强细晶高强TiAl合金的制备方法。本发明的目的是为了解决TiAl合金室温和高温力学性能低以及塑性差的问题，本发明方法为：使用Ti43Al9V0.3Y的多炉预合金铸锭，用惰性气体雾化法制备出球形度高的微米级粉末，再装入不锈钢圆筒中，真空下抽出残余空气，并充入氩气洗气，封焊。放入热等静压炉中，在高温、高压和惰性气体气氛下烧结并致密化预合金粉末，即完成。本发明TiAl合金室温强度和塑性分别增加约50％和52％；700℃高温拉伸强度和塑性分别增加32.8％和31.4％。本发明应用于金属材料力学性能领域。
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公开(公告)号：CN106058804A
公开(公告)日：2016-10-26
申请号：CN201610591287.9
申请日：2016-07-25
Applicant: 国网山东省电力公司聊城供电公司 , 国家电网公司 , 哈尔滨工业大学 , 哈工大(张家口)电力科学技术研究所
Inventor： 刘志清 , 尹东 , 王兴振 , 高贵生 , 王国朋 , 张国庆 , 于文斌 , 郭志忠 , 王贵忠 , 汪兴 , 岳恒先 , 张保华 , 刘俊方 , 邵志宇 , 张健 , 王运劭 , 吕春晖
IPC: H02H3/32
CPC classification number: H02H3/32
Abstract: 基于光学电流互感器的线路全电流差动保护判断方法，属于电力系统继电保护领域，本发明为解决现有继电保护制动性较差、区内故障灵敏性较低的问题。本发明判断方法利用光学电流互感器对线路两侧的同相电流以设定的采样率进行同步采样，将线路对侧的同相电流采样瞬时值传输至本侧；对本侧和对侧的同相电流采样瞬时值进行处理，计算全电流差动保护的动作量Ad和制动量Az；利用得到的全电流差动保护的动作量Ad和制动量Az分相构成全电流差动保护判断依据；全电流差动保护判断依据的动作量全电流差动保护判断依据的制动量本发明用于电力系统的继电保护。
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公开(公告)号：CN103698583B
公开(公告)日：2016-06-22
申请号：CN201410007257.X
申请日：2014-01-08
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 薄片贴膜式光学电流传感器，它属于光学测量领域。为了解决现有依靠增加光学玻璃长度的方式来提高测量灵敏度的光学电流传感器适用性低且成本增加的问题。它包括光源、第一偏振片、薄片贴膜式传感器、第二偏振片和光电探测器；所述薄片贴膜式传感器包括第一薄膜、透明基底玻璃和第二薄膜，第一薄膜和第二薄膜分别贴附于基底玻璃的两个通光面上；所述光源发出的光束经第一偏振片透射的后偏振光入射至薄片贴膜式传感器，入射至薄片贴膜式传感器的偏振光依次透过第一薄膜、透明的基底玻璃和第二薄膜，透过第二薄膜的光入射至第二偏振片，透过第二偏振片的偏振光入射至光电探测器。它适用于测量磁场效应中的电流。
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