一种提高直流沿面闪络电压的绝缘子试样臭氧梯度表面处理方法

    公开(公告)号:CN118824653A

    公开(公告)日:2024-10-22

    申请号:CN202410901433.8

    申请日:2024-07-05

    IPC分类号: H01B19/04

    摘要: 本发明公开了一种提高直流沿面闪络电压的绝缘子试样臭氧梯度表面处理方法,属于高压绝缘材料技术领域。1)对绝缘子试样进行表面处理后烘干;2)将保护套置于绝缘子试样上方使绝缘子试样上方表面裸露指定高度;3)将绝缘子试样置入臭氧处理平台,打开处理装置,使处理腔中臭氧的气压和浓度稳定在指定值对绝缘子试样进行处理;4)关闭臭氧处理装置,取出试样,将保护套下移至指定位置;重复步骤3)和4)两次后再次重复步骤3),最后关闭臭氧处理装置,取出试样,取下保护套,获得臭氧梯度改性的绝缘子试样。本发明提供的绝缘子试样臭氧梯度表面处理方法,可显著降低表面电场畸变,为提升绝缘子试样的直流沿面闪络性能打下基础。

    结构状态检测方法、装置、计算机设备和存储介质

    公开(公告)号:CN117634156A

    公开(公告)日:2024-03-01

    申请号:CN202311522579.3

    申请日:2023-11-15

    摘要: 本申请涉及一种结构状态检测方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括:获取环境数据信息、大电流开关柜的各结构数据信息、以及所述大电流开关柜的各测量点的当前温度数据,并基于所述环境数据信息、以及各所述结构数据信息,构建所述大电流开关柜的三维结构模型;将各所述测量点的当前温度数据输入所述三维结构模型,模拟所述大电流开关柜的运行过程,得到所述大电流开关柜的热场分布信息,并基于所述热场分布信息,识别所述梅花触头的温度数据;基于所述梅花触头的温度数据,计算所述梅花触头的当前接触电阻值,并基于所述当前接触电阻值,识别所述梅花触头的目标结构状态。采用本方法能够提升检测梅花触头的结构状态的精准度。