一种IGBT器件测试装置及测试方法

    公开(公告)号:CN111751695A

    公开(公告)日:2020-10-09

    申请号:CN202010633478.3

    申请日:2020-07-02

    IPC分类号: G01R31/26 G01R31/52

    摘要: 本发明公开了一种IGBT器件测试装置及测试方法,装置包括:可变温度湿度试验箱,用于控制测试环境温度及湿度;每个测试工位均置于所述可变温度湿度试验箱内部,每个测试工位用于固定一个IGBT,并对IGBT进行散热;测试与控制模块,用于对IGBT进行周期测试,在每次周期测试中依次对IGBT进行高压测试及静态参数测试;测试电源,与IGBT的栅极连接,用于输出测试脉冲信号,所述脉冲信号用于控制IGBT的通断状态;多条电源引线,用于将外接电源与IGBT连接,并采集IGBT的漏电流。本发明利用可变温度湿度试验箱将测试温度保持高温度高湿度环境状态下,对IGBT进行高压测试之后,利用测量电源对IGBT进行静态参数测试,从而解决了无法了解失效器件的退化过程和其他参数变化规律。