一种可谐调带宽入射光校正空间调制偏振成像参数的方法

    公开(公告)号:CN111982287A

    公开(公告)日:2020-11-24

    申请号:CN202010824721.X

    申请日:2020-08-17

    Abstract: 本发明提供的是一种可谐调带宽入射光校正空间调制偏振成像参数的方法。其过程包括:A1,在频域中找到中心波长λ1窄带宽入射光的Stokes矢量S1被调制的位置a1;A2,通过可谐调滤光片调节带宽d和降低入射光的中心波长λ1,当偏振度DOP发生变化时由中心波长λ1减去带宽的一半d/2得到此波段不发生混叠时最小的波长λ2;A3,通过可谐调滤波片增大入射光的中心波长和调节带宽d,当偏振度DOP发生变化时由中心波长λ1加上带宽的一半d/2得到此波段不发生混叠时最大的波长λ3;A4,通过得到的此波段不发生混叠时最小的波长λ2和被调制的位置a1计算出偏振成像系统整体的系数t1;A5,通过得到的此波段不发生混叠时最小的波长λ3和a1+1计算出偏振成像系统整体的系数t2,对两个系数进行对比检测。本发明可用于宽波段空间调制偏振成像设备的参数的测量和校正,可广泛用于宽波段偏振遥感成像等领域。

    一种计算光栅干涉仪安装误差的装置和方法

    公开(公告)号:CN111964573A

    公开(公告)日:2020-11-20

    申请号:CN202010801107.1

    申请日:2020-08-11

    Abstract: 本发明提供一种计算光栅干涉仪安装误差的装置和方法,包括承载台9、框架10和测量装置,所述测量装置设置于承载台与框架之间;测量装置包括4组光栅干涉仪,承载台底面上设置有4个一维光栅(5-8),4个光栅的矢量方向沿逆时针方向旋转,在每个一维光栅的上方设置有一个二维读头(1-4)。根据光栅干涉仪的安装布局,建立光栅干涉仪解算模型,光栅干涉仪解算模型中的自由度系数是由读头、光栅的定义位置和定义的安装误差计算得到,通过设置各个读头、光栅的安装误差表,计算误差表中满足光栅干涉仪测量精度的安装误差项,即可得到各个读头和光栅的安装误差范围。本发明可用于超精密光栅干涉仪的校准。

    基于同轴双波导光纤的光学纳米天线探测器及其制备方法

    公开(公告)号:CN109752798B

    公开(公告)日:2020-08-28

    申请号:CN201711071782.8

    申请日:2017-11-03

    Abstract: 本发明提供的是一种基于同轴双波导光纤的光学纳米天线探测器。其特征是:所述的光学天线主要由一段同轴双波导光纤1组成,同轴双波导光纤1的一个纤端经过研磨形成纤端圆锥台2,而纤端圆锥台2的端面上沉积有二维阵列金属光学天线3;这里,同轴双波导光纤1包含包层4、中央纤芯5以及环形纤芯6,包层4、中央纤芯5和环形纤芯6三者的中心同轴;一方面,中央纤芯5(或环形纤芯6)传输的传导光波7直接(或经过纤端圆锥台2全内反射后)作用在二维阵列金属光学天线3上,两者相互作用后激发出光辐射场信号8;另一方面,光辐射场信号8作用于二维阵列金属光学天线3后形成信号光波9,然后直接被中央纤芯5接收或者经过纤端圆锥台2收集后被环形纤芯6接收。本发明可用于光电探测、传感、热传导、太阳能电池、以及光谱分析等领域。

    一种用于测量运动台六自由度的装置及方法

    公开(公告)号:CN108519053B

    公开(公告)日:2020-05-29

    申请号:CN201810337864.0

    申请日:2018-04-16

    Abstract: 本发明提供一种用于测量运动台六自由度的装置,包括第一反射镜、第二反射镜和第三反射镜,第一反射镜与第二反射镜分别设置于运动台相邻的两个侧面,第三反射镜设置于第二反射镜所在侧面的下部且第三反射镜的反射面与第二反射镜的反射面呈钝角设置;还包括设置于运动台上的三个二维光栅尺测量读头;其中一个二维光栅测量读头沿第二反射镜所在侧面的边沿设置,另外两个二维光栅测量读头沿与第二反射镜面所在侧面相对的侧面的边沿设置;每个二维光栅尺测量读头对应一个平面光栅,二维光栅尺测量读头用于测量运动台与平面光栅间的相对位移。本发明满足使用激光干涉仪与平面光栅尺两套测量系统同时测量运动台六自由度的需求。

    一种电控转换的太赫兹带通/带阻滤波器

    公开(公告)号:CN111162354A

    公开(公告)日:2020-05-15

    申请号:CN202010049203.5

    申请日:2020-01-16

    Abstract: 本发明为一种电控转换的太赫兹带通/带阻滤波器,包括高阻硅基底、位于高阻硅基底之上的绝缘层表面固定二维阵列。每个阵列单元包括一个冂形金属结构、2个T形金属结构、2个I形金属结构及1条引线。内相变垫片处于单元内的二I形结构相对端的下方,间相变垫片处于行间相对的T形结构横条下方。二维阵列两侧各固定一电极,分别连接直流电源的正负极,不通电时,相变垫片低电导,本滤波器工作于带阻滤波状态;通电加热时,相变垫片高电导,本滤波器工作于带通滤波状态。本发明电控实现太赫兹滤波器的带通滤波/带阻滤波状态的转换,无需繁琐的更换不同功能太赫兹滤波器,适用于不同场合,操作简单,本太赫兹滤波器的应用范围显著地被拓展。

    一种太赫兹波段超表面相移装置及其测量方法

    公开(公告)号:CN110779456A

    公开(公告)日:2020-02-11

    申请号:CN201911088500.4

    申请日:2019-11-08

    Abstract: 本发明公开了一种太赫兹波段超表面相移装置及其测量方法,所述太赫兹波段超表面相移装置包括接收组件、干涉组件和发射组件,通过所述发射组件发出强度一致的太赫兹波在被测物体表面产生反射光,通过所述干涉组件产生干涉图纹,所述接收组件中的所述相移器接收该干涉图纹后产生多个已知相位差的干涉图纹,其中,所述相移器由多个结构不同的超表面相移单元组成,所述超表面相移单元由C型开口环构成,呈周期性阵列形式,将对应的被测物体的相位组合在一起,得到被测物体表面的完整相位,从而得到被测物体的变形量,提高了检测精确度,并降低了成本。

    一种基于方向场与纹理特征的工件缺陷检测与分类方法

    公开(公告)号:CN109829906A

    公开(公告)日:2019-05-31

    申请号:CN201910095715.2

    申请日:2019-01-31

    Abstract: 本发明公开了一种基于方向场与纹理特征的工件缺陷检测与分类方法,包括先利用采集的工件样本数据建立SVM检测模型,将采集的待测工件表面图像进行预处理自动得获取工件的ROI区域,将ROI区域划分为w×w大小的待测样本图像,并按照位置坐标将待测样本图像坐标加入标签,最后用SVM检测模型对待测样本图像进行分类,得到分类结果与缺陷样本,通过标签进一步索引缺陷位置。本发明计算图像的方向场与纹理特征中对比度、能量、熵的特征向量,通过归一化进行尺度转化,从而建立SVM模型,计算的模型不仅反应了不同缺陷的特征,同时能降低环境光照对系统的影响,增加了系统的稳定性与抗干扰能力。

    一种基于小波变换的相位细分方法

    公开(公告)号:CN109813233A

    公开(公告)日:2019-05-28

    申请号:CN201910089381.8

    申请日:2019-01-30

    Abstract: 本发明公开了一种基于小波变换的相位细分方法,包括将运动光栅和固定光栅形成的光学干涉信号转换成电信号,并对所述电信号进行采样,得到采样数据;将所述采样数据进行小波变换得到各采样点的瞬时频率,对各段采样点进行拟合并得到第一频率曲线;确定第一频率曲线中相邻两端点之间的中间频率,并将各两端点之间的中间频率点进行拟合得到优化频率曲线,两端点之间的采样点按照拟合的频率曲线分布;对优化频率曲线进行误差检测,得到采样点的优化频率;计算从时间t处开始经过时间Δt后,所在时间点的瞬时频率f(t+Δt),设经过时间间隔Δt后得到的相位是2π/n,计算时间间隔Δt的同时进行计数N;根据运动关系计算出所述运动光栅运动的距离。

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