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公开(公告)号:CN109405774A
公开(公告)日:2019-03-01
申请号:CN201811653395.X
申请日:2018-12-29
申请人: 中国原子能科学研究院
IPC分类号: G01B15/02
摘要: 本发明提供一种测量薄膜厚度的方法,包括以下步骤:S1:使用中子束辐照待测薄膜,所述薄膜上设置有第一表层,所述第一表层包含10B或6Li,中子束从第一表层入射,测量10B(n,α)7Li或6Li(n,α)3H反应产生的出射α粒子或3H粒子的能谱;S2:由步骤S1测量得到的出射α粒子或3H粒子的能谱得到α粒子或3H粒子的初始能量和α粒子或3H粒子离开薄膜表面时的能量,计算得到薄膜的厚度。
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公开(公告)号:CN104714261B
公开(公告)日:2016-04-06
申请号:CN201410799595.1
申请日:2014-12-19
申请人: 中国原子能科学研究院
摘要: 本发明属于减反射材料制备技术领域,具体涉及一种用于25~100μm波长范围内的减反射材料的制备方法。该方法是利用加速器产生的质量数大于40的重粒子在真空室中双面辐照厚度为40~60μm的聚酯膜,使辐照后聚酯膜一面的孔密度为8×106~10×106/cm2,另一面的孔密度为5×106~7×106/cm2,辐照过后的样品在清洁的大气环境中放置1~3个月,然后利用氢氧化钠溶液对聚酯膜进行蚀刻后得到所需减反射材料。该材料具有核孔孔径深度增大、辐照粒子密度要求降低且能够实现在25~100μm波长范围内反射率小于3%的优点。
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公开(公告)号:CN205120730U
公开(公告)日:2016-03-30
申请号:CN201520780002.7
申请日:2015-10-09
申请人: 中国原子能科学研究院
IPC分类号: G01N35/02
摘要: 本实用新型涉及一种自动进样回样循环排队装置。所述装置包括样品架及固定支架、样品进样/出样管道及连接头,样品接收仓、步进电机及控制器、气缸及气路管道、光电传感器、PLC及通讯设备。本装置具有高度自动化、处理样品容量大、控制简单、成本较低等特点,可用于对样品进行分析和排队测量的实验室和工业分析场所。整个装置外围有铅材料屏蔽,因本装置体积较小、降低了屏蔽材料成本。本装置大大减少了放射性样品分析时近距离操作人员所受的辐射剂量,提高了人体防护的安全性。此外本装置同样适用于其他非放射性样品的分析和排队测量系统。为防止自动控制功能出现故障,本装置还包括手动控制功能。
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