公开(公告)号：CN109405774B

公开(公告)日：2019-12-24

申请号：CN201811653395.X

申请日：2018-12-29

申请人： 中国原子能科学研究院

发明人： 肖才锦 ,  石丛 ,  姚永刚 ,  王平生 ,  金象春 ,  刘旭东 ,  运威旭 ,  唐婵娟 ,  倪邦发

IPC分类号： G01B15/02

摘要： 本发明提供一种测量薄膜厚度的方法，包括以下步骤：S1：使用中子束辐照待测薄膜，所述薄膜上设置有第一表层，所述第一表层包含10B或6Li，中子束从第一表层入射，测量10B(n，α)7Li或6Li(n，α)3H反应产生的出射α粒子或3H粒子的能谱；S2：由步骤S1测量得到的出射α粒子或3H粒子的能谱得到α粒子或3H粒子的初始能量和α粒子或3H粒子离开薄膜表面时的能量，计算得到薄膜的厚度。

公开(公告)号：CN109405774A

公开(公告)日：2019-03-01

申请号：CN201811653395.X

申请日：2018-12-29

申请人： 中国原子能科学研究院

发明人： 肖才锦 ,  石丛 ,  姚永刚 ,  王平生 ,  金象春 ,  刘旭东 ,  运威旭 ,  唐婵娟 ,  倪邦发

IPC分类号： G01B15/02

摘要： 本发明提供一种测量薄膜厚度的方法，包括以下步骤：S1：使用中子束辐照待测薄膜，所述薄膜上设置有第一表层，所述第一表层包含10B或6Li，中子束从第一表层入射，测量10B(n，α)7Li或6Li(n，α)3H反应产生的出射α粒子或3H粒子的能谱；S2：由步骤S1测量得到的出射α粒子或3H粒子的能谱得到α粒子或3H粒子的初始能量和α粒子或3H粒子离开薄膜表面时的能量，计算得到薄膜的厚度。

公开(公告)号：CN107179326A

公开(公告)日：2017-09-19

申请号：CN201710323866.X

申请日：2017-05-09

申请人： 中国原子能科学研究院

发明人： 姚永刚 ,  肖才锦 ,  金向春 ,  王平生 ,  石丛 ,  唐婵娟 ,  刘旭东 ,  倪邦发

IPC分类号： G01N23/00

CPC分类号： G01N23/005

摘要： 本发明属于辐射测量技术领域，涉及一种放射性样品测量架位自动调节系统。所述的自动调节系统包括依次连接的测量架位自动调节装置、电机控制器、可控制计算机，测量架位自动调节装置包括电机、滑块、滑块轨道、测量管、传输管道接口、测量终端；电机可带动滑块在滑块轨道上上下运动，进而可带动滑块连接的测量管上下运动；传输管道接口固定连接测量管的最上部，用于加入放射性样品；测量终端连接测量管的最下部，用于对放射性样品进行卡位；可控制计算机用于通过其中安装的软件对电机控制器进行控制，进而控制滑块和测量管的上下运动。利用本发明的调节系统，能够根据测量样品放射性活度或测量系统死时间大小自动调节样品与辐射探测器之间的距离。