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公开(公告)号：CN118464945A
公开(公告)日：2024-08-09
申请号：CN202410396476.5
申请日：2024-04-02
申请人： 中国原子能科学研究院
摘要： 本发明实施例提供一种中子屏蔽件的屏蔽性能的测量方法及测量装置，测量方法包括：使中子束辐照转换件，获取转换件俘获中子所产生的特征粒子的第一计数率；使中子束穿过中子屏蔽件后辐照转换件，获取转换件俘获中子所产生的特征粒子的第二计数率；根据第一计数率与第二计数率得到中子屏蔽件的衰减系数。本发明实施例通过使用转换件，测量特征粒子计数率的变化能够得到中子屏蔽件的衰减系数，相比直接测量中子束穿过中子屏蔽件所带来的变化，特征粒子由核反应产生，其物理参数特征相比中子更加明显，有利于使得本发明实施例中的测量方法相比现有方法灵敏度更高，且步骤简单，利于操作和测量。
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公开(公告)号：CN107179326A
公开(公告)日：2017-09-19
申请号：CN201710323866.X
申请日：2017-05-09
申请人： 中国原子能科学研究院
IPC分类号： G01N23/00
CPC分类号： G01N23/005
摘要： 本发明属于辐射测量技术领域，涉及一种放射性样品测量架位自动调节系统。所述的自动调节系统包括依次连接的测量架位自动调节装置、电机控制器、可控制计算机，测量架位自动调节装置包括电机、滑块、滑块轨道、测量管、传输管道接口、测量终端；电机可带动滑块在滑块轨道上上下运动，进而可带动滑块连接的测量管上下运动；传输管道接口固定连接测量管的最上部，用于加入放射性样品；测量终端连接测量管的最下部，用于对放射性样品进行卡位；可控制计算机用于通过其中安装的软件对电机控制器进行控制，进而控制滑块和测量管的上下运动。利用本发明的调节系统，能够根据测量样品放射性活度或测量系统死时间大小自动调节样品与辐射探测器之间的距离。
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公开(公告)号：CN105158491B
公开(公告)日：2017-05-03
申请号：CN201510649724.3
申请日：2015-10-09
申请人： 中国原子能科学研究院
IPC分类号： G01N35/02
摘要： 本发明涉及一种自动进样回样循环排队装置。所述装置包括样品架及固定支架、样品进样/出样管道及连接头，样品接收仓、步进电机及控制器、气缸及气路管道、光电传感器、PLC及通讯设备。本装置具有高度自动化、处理样品容量大、控制简单、成本较低等特点，可用于对样品进行分析和排队测量的实验室和工业分析场所。整个装置外围有铅材料屏蔽，因本装置体积较小、降低了屏蔽材料成本。本装置大大减少了放射性样品分析时近距离操作人员所受的辐射剂量，提高了人体防护的安全性。此外本装置同样适用于其他非放射性样品的分析和排队测量系统。为防止自动控制功能出现故障，本装置还包括手动控制功能。
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公开(公告)号：CN104714261A
公开(公告)日：2015-06-17
申请号：CN201410799595.1
申请日：2014-12-19
申请人： 中国原子能科学研究院
CPC分类号： G02B1/118 , C08J7/123 , C08J2367/00 , G02B1/12
摘要： 本发明属于减反射材料制备技术领域，具体涉及一种用于25～100μm波长范围内的减反射材料的制备方法。该方法是利用加速器产生的质量数大于40的重粒子在真空室中双面辐照厚度为40～60μm的聚酯膜，使辐照后聚酯膜一面的孔密度为8×106～10×106/cm2，另一面的孔密度为5×106～7×106/cm2，辐照过后的样品在清洁的大气环境中放置1～3个月，然后利用氢氧化钠溶液对聚酯膜进行蚀刻后得到所需减反射材料。该材料具有核孔孔径深度增大、辐照粒子密度要求降低且能够实现在25～100μm波长范围内反射率小于3％的优点。
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公开(公告)号：CN104119682A
公开(公告)日：2014-10-29
申请号：CN201410342002.9
申请日：2014-07-17
申请人： 中国原子能科学研究院
摘要： 本发明属于辐射防护技术领域，公开了一种中子屏蔽材料及其制备方法。其中屏蔽材料包括硅胶、硅胶固化剂及中子俘获材料，所述中子俘获材料为含硼化合物或含锂化合物中的至少一种。制备方法包括先将硅胶和硅胶固化剂搅拌均匀，然后再加入中子俘获材料并将这三种材料搅拌均匀，最后将搅拌均匀的混合物加入压制模具中，挤压成型，待凝固后脱膜即可。本发明提供的屏蔽中子屏蔽效果好、柔韧性好、抗拉强度高、可用于不规则设备的屏蔽且能够用于制作防护衣；制备该屏蔽材料的方法简单易于操控，并可在室温下操作。
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公开(公告)号：CN105158491A
公开(公告)日：2015-12-16
申请号：CN201510649724.3
申请日：2015-10-09
申请人： 中国原子能科学研究院
IPC分类号： G01N35/02
摘要： 本发明涉及一种自动进样回样循环排队装置。所述装置包括样品架及固定支架、样品进样/出样管道及连接头，样品接收仓、步进电机及控制器、气缸及气路管道、光电传感器、PLC及通讯设备。本装置具有高度自动化、处理样品容量大、控制简单、成本较低等特点，可用于对样品进行分析和排队测量的实验室和工业分析场所。整个装置外围有铅材料屏蔽，因本装置体积较小、降低了屏蔽材料成本。本装置大大减少了放射性样品分析时近距离操作人员所受的辐射剂量，提高了人体防护的安全性。此外本装置同样适用于其他非放射性样品的分析和排队测量系统。为防止自动控制功能出现故障，本装置还包括手动控制功能。
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公开(公告)号：CN104597529A
公开(公告)日：2015-05-06
申请号：CN201410799612.1
申请日：2014-12-19
申请人： 中国原子能科学研究院
IPC分类号： G02B1/111
CPC分类号： G02B1/111
摘要： 本发明属于减反射材料制备技术领域，公开了一种用于2.5～25μm波长范围内的减反射材料的制备方法。该方法是利用加速器产生的重粒子在真空室中双面辐照厚度为20～50μm的聚酯膜，并将辐照过后的样品在清洁的大气环境中放置1～3个月，使聚酯膜中的潜径迹发生光致氧化过程，然后利用氢氧化钠蚀刻液进行蚀刻得到所需减反射材料。该方法具有工艺较简单、核孔孔径深度增大、辐照粒子密度要求降低且能够实现在2.5～25μm波长范围内反射率小于1％的优点。
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公开(公告)号：CN109405774B
公开(公告)日：2019-12-24
申请号：CN201811653395.X
申请日：2018-12-29
申请人： 中国原子能科学研究院
IPC分类号： G01B15/02
摘要： 本发明提供一种测量薄膜厚度的方法，包括以下步骤：S1：使用中子束辐照待测薄膜，所述薄膜上设置有第一表层，所述第一表层包含10B或6Li，中子束从第一表层入射，测量10B(n，α)7Li或6Li(n，α)3H反应产生的出射α粒子或3H粒子的能谱；S2：由步骤S1测量得到的出射α粒子或3H粒子的能谱得到α粒子或3H粒子的初始能量和α粒子或3H粒子离开薄膜表面时的能量，计算得到薄膜的厚度。
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公开(公告)号：CN109405774A
公开(公告)日：2019-03-01
申请号：CN201811653395.X
申请日：2018-12-29
申请人： 中国原子能科学研究院
IPC分类号： G01B15/02
摘要： 本发明提供一种测量薄膜厚度的方法，包括以下步骤：S1：使用中子束辐照待测薄膜，所述薄膜上设置有第一表层，所述第一表层包含10B或6Li，中子束从第一表层入射，测量10B(n，α)7Li或6Li(n，α)3H反应产生的出射α粒子或3H粒子的能谱；S2：由步骤S1测量得到的出射α粒子或3H粒子的能谱得到α粒子或3H粒子的初始能量和α粒子或3H粒子离开薄膜表面时的能量，计算得到薄膜的厚度。
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公开(公告)号：CN104714261B
公开(公告)日：2016-04-06
申请号：CN201410799595.1
申请日：2014-12-19
申请人： 中国原子能科学研究院
摘要： 本发明属于减反射材料制备技术领域，具体涉及一种用于25～100μm波长范围内的减反射材料的制备方法。该方法是利用加速器产生的质量数大于40的重粒子在真空室中双面辐照厚度为40～60μm的聚酯膜，使辐照后聚酯膜一面的孔密度为8×106～10×106/cm2，另一面的孔密度为5×106～7×106/cm2，辐照过后的样品在清洁的大气环境中放置1～3个月，然后利用氢氧化钠溶液对聚酯膜进行蚀刻后得到所需减反射材料。该材料具有核孔孔径深度增大、辐照粒子密度要求降低且能够实现在25～100μm波长范围内反射率小于3％的优点。
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