航天器在轨分子污染吸附装置

    公开(公告)号:CN108889272A

    公开(公告)日:2018-11-27

    申请号:CN201810711768.8

    申请日:2018-07-03

    Abstract: 本发明公开了一种航天器在轨分子污染吸附装置,包括基底材料和设置在基底材料之上的吸附剂层或吸附剂膜,基底材料为堇青石,沸石分子筛为吸附剂层,其中,沸石分子筛吸附剂层或膜,所述装置用于设置在航天器的表面上并通过沸石分子筛吸附剂层对其表面上的有机分子污染物进行吸附。本发明降低了航天器该区域内的污染水平,从而阻止污染物分子到达航天器敏感表面,实现航天器的污染控制。

    太阳电池污染与紫外辐照协和效应试验方法

    公开(公告)号:CN104215542A

    公开(公告)日:2014-12-17

    申请号:CN201410479859.5

    申请日:2014-09-18

    Abstract: 本发明公开了一种太阳电池污染与紫外辐照协和效应试验方法,包括放置污染源在样品室内,将石英晶体微量天平与太阳电池片放置在同一平面上,石英晶体微量天平与太阳电池在平面中心附近对称放置,试验开始后,用加热片对样品室进行加热,打开紫外辐照系统电源,对太阳电池进行辐照,同时实时监控模拟污染物沉积阶段的天平频率,试验后用太阳模拟器和电性能测试仪测试太阳电池性能参数,并记录数据。本发明的试验方法可应用于航天器用太阳电池在污染与紫外辐照作用下性能退化研究。

    石英晶体微量天平性能测试系统

    公开(公告)号:CN102455211B

    公开(公告)日:2014-01-01

    申请号:CN201010512681.1

    申请日:2010-10-20

    Abstract: 本发明公开了一种石英晶体微量天平性能测试系统,包括真空抽气系统、复压系统、测量控制系统和真空室,其中,真空室内设置有冷屏,冷屏的底部与晶片试验装置和QCM探头试验装置相配合,以支撑晶片试验装置和天平探头试验装置,并负责提供两个装置到冷屏的热传导;真空室与真空抽气系统、复压系统真空连接,真空抽气系统为真空室建立试验所需的真空环境;试验装置电连接有测量控制系统以进行温度和频率的测量。本测试系统提供了一个清洁无油的真空环境,保证QCM不会发生由于污染而导致的频率改变;能够进行QCM及其关键部件-晶片的多项性能测试,并能够对已经应用的天平进行高温老练,提高可靠性。

    石英晶体微量天平准确性验证试验系统

    公开(公告)号:CN101451943B

    公开(公告)日:2011-02-16

    申请号:CN200710195196.4

    申请日:2007-12-04

    Abstract: 本发明涉及一种石英晶体微量天平准确性试验装置,包括放气室原位实时称重系统、放气物余弦定量散射系统、角系数检验系统;放气室原位实时称重系统实现放气物质量变化的实时测量,其测量值通过标定的电子天平追溯到国家质量计量基准;放气物余弦定量散射系统通过定量散射方法将10-4g数量级的定量质量传递到石英晶体微量天平表面上的10-7g/cm2数量级的定量质量面密度,实现了石英晶体微量天平的定量加载,其加载量测量准确性可追溯到上级和国家计量系统的质量基准;角系数检验系统,用于验证散射系统角系数的准确性,保证整个质量传递过程的受控。本发明的准确性试验系统的试验精度高,不确定度优于40%,采用放气物的真空下实时的直接称重,实现了放气速率的准确测量。

    用于航天器探测装置机构在轨展开操作的电磁解锁结构

    公开(公告)号:CN104097792B

    公开(公告)日:2016-10-05

    申请号:CN201410366711.0

    申请日:2014-07-29

    Abstract: 本发明公开了用于航天器探测装置机构在轨展开操作的电磁解锁结构,包括盖板、用于设置探测器用的安装板,盖板一侧枢轴转动连接在安装板上,枢轴上对称套设一对扭簧以在盖板展开后利用扭转力保持其在展开状态,盖板另一侧机械固定有铁芯体一,铁芯体一的中部设置有永磁铁,安装板与盖板的相对侧面上设置有“山”字形的铁芯体二,铁芯体二的三个突出部分分别与铁芯体一的两端和永磁体对应进行面接触,电磁线圈在通入解锁电流后产生大于吸合力的电磁力使机构解锁并在螺旋弹簧的弹簧力作用下保持解锁状态。本发明的电磁解锁结构,重量轻、体积小、功耗小,能够快速、可靠实现机构解锁、展开及状态保持操作。

    材料放气对光学透过率影响分析试验系统

    公开(公告)号:CN104237142A

    公开(公告)日:2014-12-24

    申请号:CN201410515653.3

    申请日:2014-09-29

    Abstract: 本发明公开了一种材料放气组分沉积污染物对光学透过率影响的分析试验系统,包括真空环境单元、材料放气单元、污染沉积量测试单元及光学透过率取样分析单元。本发明的材料放气组分沉积污染物对光学透过率影响的分析试验系统,能够快速建立空间真空环境,针对各类非金属材料,开展不同放气温度环境、不同沉积温度环境及不同污染物量级污染物对光学表面透过率影响的测试分析。

    分体式温控石英晶体微量天平装置

    公开(公告)号:CN101769840B

    公开(公告)日:2012-09-12

    申请号:CN200810188072.8

    申请日:2008-12-29

    Abstract: 本发明涉及一种分体式温控石英晶体微量天平装置,包括温控石英晶体微量天平传感探头系统(1)和与其电连接的温控石英晶体微量天平传感电路系统(2);所述温控石英晶体微量天平传感探头包括传感晶片(11)、参考晶片(12)、铂电阻(13)、加热器(14)和中间插头(15);温控石英晶体微量天平传感电路包括输入插头(21)、传感晶片振荡电路(22)、参考晶片振荡电路(23)、差频电路(24)、连接电路板(25)、输出插头(26);本发明的温控石英晶体微量天平能够工作在-190℃~100℃且由传感探头和传感电路两个模块组成,每个模块具有便携性和易用性。

    航天器舱内污染量测试装置

    公开(公告)号:CN102539479A

    公开(公告)日:2012-07-04

    申请号:CN201110425693.5

    申请日:2011-12-19

    Abstract: 本发明公开了一种用于真空热试验的航天器舱内污染量测试装置,由舱内污染量探头系统和与其电通信的测试系统组成,其中,探头系统包括探头和驱动器,探头包括固定设置在法兰上的传感晶片和参考晶片,法兰上还设置有测量两晶片的温度传感器,驱动器中设置有电路结构,温度传感器与驱动器中的输出驱动电路分别与测试系统电通信以将温度和频率数据传送给测试系统。本发明的用于真空热试验的航天器舱内污染量测试装置,实现了污染量测量量程达到1×10-5g/cm2,探头适应温度达到60℃,满足了航天器真空热试验污染量监测的需要。

    石英晶片低温频温曲线测试装置

    公开(公告)号:CN101769911A

    公开(公告)日:2010-07-07

    申请号:CN200810188070.9

    申请日:2008-12-29

    Abstract: 本发明涉及一种石英晶片低温频温曲线测试装置,由晶片试验装置、铂电阻、电路组件、频率测量系统和电缆线组成,晶片试验装置包括晶片安装板(1)、温控法兰(2)、加热片(3)和温控盖板(7),晶片安装板(1)整体呈倒置的π形,突台式温控法兰(2)扣在晶片安装板(1)上,形成一个放置被测晶片的空间,温控法兰(2)的上部设置有圆形的加热片(3),加热片(3)的上部设置有圆形的温控盖板(7),突台外的圆形底板上均布有数个与冷屏的安装孔(9),可以通过螺钉将温控法兰2的外圈与冷屏接触且固定。本发明填补了国内空白,采用冷屏降温、加热片升温的方式,可以高精度的测试晶片性能。

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