低气压放电试验方法和系统
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117310418A

    公开(公告)日:2023-12-29

    申请号:CN202311423286.X

    申请日:2023-10-30

    IPC分类号: G01R31/12

    摘要: 本申请公开了一种低气压放电试验方法和系统,该方法包括:获取样品中的试验电极的电极距离和电极形状;根据所述电极形状,确定所述试验电极的电极类型;根据所述电极类型和与所述电极类型对应的帕邢曲线,得到实际测量的多组最小起晕电压值;基于所述多组最小起晕电压值和所述电极距离,得到试验压力值;根据所述试验压力值,控制试验系统中真空容器内的压力值,以进行试验。该方案能够精准地确定出试验电极的电极类型,考虑到该电极类型便于精准地确定出试验压力值,并且能够更细粒度地控制试验系统中真空容器内的压力值,从而较为真实地模拟空间低气压环境,可为航天器高压电子产品低气压试验评估提供技术手段。

    一种激光跟瞄定向发射试验系统及试验方法

    公开(公告)号:CN111638592A

    公开(公告)日:2020-09-08

    申请号:CN202010522252.6

    申请日:2020-06-10

    摘要: 本申请公开了一种激光跟瞄定向发射试验系统及试验方法,所述试验系统包括方位和俯仰可调的旋转机构,承载于旋转机构中的激光引导单元和激光汇聚单元;激光引导单元包括若干反射镜,用于将入射的激光反射后引导至激光汇聚单元;激光汇聚单元包括一可动反射镜和一聚焦透镜,用于将入射的激光聚焦后输出光斑作用于目标对象,其中,可动反射镜的光轴与聚焦透镜的光轴在同一条直线上。本申请的试验系统能够用于在地面开展激光驱动微小目标飞行试验和激光驱动微小目标跟瞄实验,具有实时跟瞄、到靶激光能量密度可调的优势,并且本申请的试验系统没有当前已有微小目标激光跟瞄实验系统对入射激光能量的限制,避免了高能量密度入射激光对光路系统的损伤。

    真空条件下基于辐射诱导电场的颗粒物清除系统及方法

    公开(公告)号:CN108080355A

    公开(公告)日:2018-05-29

    申请号:CN201711390031.2

    申请日:2017-12-21

    IPC分类号: B08B6/00

    摘要: 本发明公开了一种真空条件下基于辐射诱导电场的颗粒物清除系统,包括真空容器,以及设置在真空容器内的紫外灯和电子枪,紫外灯与电子枪分别设置在间隔板的两侧面上,间隔板通过旋转装置转动,紫外灯和电子枪随着间隔板转动到一定位置,紫外灯和电子枪将各自辐射的颗粒物产生带正电颗粒和带负电颗粒,在横向电场的作用下,颗粒物质移动脱离所粘附的材料,进行清除。本发明也公开了一种颗粒物清除方法。本发明利用颗粒物质真空条件下的荷电特性清除颗粒物质,无需对颗粒物质进行特殊处理,也不需要改变颗粒与粘附表面的接触状态,且清除区域有确定的边界和方向性。

    基于无狭缝光谱分光的大视场多谱段极紫外成像仪

    公开(公告)号:CN107543608A

    公开(公告)日:2018-01-05

    申请号:CN201611030359.9

    申请日:2016-11-16

    IPC分类号: G01J1/42

    摘要: 本发明公开了一种基于无狭缝光谱分光的大视场多谱段极紫外成像仪,包括两个光电传感器、柱状透镜、多层膜反射镜、掠入射光栅等,极紫外目标成像谱段经光路准直单元准直,平行入射的极紫外光经掠入射光栅分光,得到高光谱分辨率的太阳像,在小掠入射角的条件下,形成近似一维的椭圆形太阳像,多个光谱段的太阳像经多层膜反射镜将不同谱段能量汇聚图像;重要的谱段通过柱状透镜进行一维放大,得到该重要的谱段完整的二维太阳极紫外像。本发明利用一台望远镜的资源,实现对太阳极紫外光多条谱线的高空间分辨率和高光谱分辨率成像,可以及时、准确地预测太阳爆发活动。

    粉尘摩擦副结构及使用该结构的真空粉尘摩擦磨损试验机

    公开(公告)号:CN104122200A

    公开(公告)日:2014-10-29

    申请号:CN201310145514.1

    申请日:2013-04-24

    IPC分类号: G01N19/02

    摘要: 本发明公开了一种粉尘摩擦副结构以及使用于真空环境下的具有该结构的粉尘摩擦磨损试验机。该结构包括上试件、下试件试件内定位环、下试件外定位环、试样台底座等。内定位环依靠内部凹槽内设置的螺钉固定到试样台底座上,外定位环上设置有定位孔,通过试样台底座上对应设置的定位销进行两者的孔销配合连接,下试件为圆环体,固定卡设在内外定位环之间,上试件机械固定到摩擦磨损机的加载轴上,上试件的圆环与下试件的圆环紧密接触,并处于下试件两定位环形成的凹槽中,两圆环接触部分中设置有粉尘。本发明的结构采用环块对磨方式,确保试验过程中粉尘始终保持在两对磨面间,采用该结构的摩擦试验机能使试验机与真空系统相互独立,占用空间少,方便灵活且成本低廉。