一种进样装置
    12.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104569228B

    公开(公告)日:2016-03-16

    申请号:CN201410850105.6

    申请日:2014-12-31

    CPC classification number: H01J49/0422 G01N30/14 G01N30/16 G01N30/20

    Abstract: 本发明涉及进样装置领域,公开了一种进样装置,包括:采样器、吸气泵、吸附器、活塞缸体和解析缸体,解析缸体具有解析腔,解析缸体设有与解析腔连通的载气入口、载气吹扫/分流出口以及和分析仪器接口,解析缸体外壁设有加热膜和温度传感器;活塞缸体设有两个活塞腔,每个活塞腔安装一个吸附器;活塞缸体安装在解析缸体上,且两个活塞腔均与解析腔相连通;活塞缸体设有均与两个活塞腔连通的样品进气口和吸气泵气口,样品进气口与采样器连接,吸气泵气口与吸气泵连接;吸附器包括相连接的吸附筛筒和活塞杆,吸附筛筒用于存放吸附剂;活塞杆可滑动安装在活塞腔中,且吸附筛筒可同时与样品进气口和吸气泵气口连通。

    离子迁移谱仪用多路温控装置

    公开(公告)号:CN102541117A

    公开(公告)日:2012-07-04

    申请号:CN201010624248.7

    申请日:2010-12-31

    Abstract: 公开了一种离子迁移谱仪用多路温控装置,它包括数字电路部分和模拟电路部分。数字电路部分主要包括带USB接口的单片机、有多路独立输出的DAC、具有单路模拟输入的ADC。模拟电路部分包括多路独立的温度控制电路以及多选1模拟开关电路。每个温度控制电路包括对应的PT1000温度传感器、模拟PID控制电路、MOS管和加热膜。根据本发明的实施例,多路温控电路可同时工作,又相互独立。

    辐射成像系统和方法
    18.
    发明授权

    公开(公告)号:CN113281357B

    公开(公告)日:2024-07-09

    申请号:CN202110781545.0

    申请日:2021-07-12

    Abstract: 本公开提出一种辐射成像系统和方法,涉及辐射探测技术领域。本公开的一种辐射成像系统包括:光电二极管探测器,被配置为接收来自射线源的射线,并生成第一探测信号;第一成像设备,与光电二极管探测器连接,被配置为根据第一探测信号生成第一成像数据;计数探测器,位于光电二极管探测器的远离射线接收面的一侧,被配置为接收穿过光电二极管探测器的射线,生成第二探测信号;计数成像设备,与计数探测器连接,被配置为根据第二探测信号生成计数成像数据;和图像融合装置,被配置为根据第一成像数据和计数成像数据,获取第一融合图像,提高辐射探测质量。

    辐射剂量检测装置和辐射剂量检测方法

    公开(公告)号:CN117607934A

    公开(公告)日:2024-02-27

    申请号:CN202311811466.5

    申请日:2023-12-26

    Abstract: 本公开提供了一种辐射剂量检测装置和辐射剂量检测方法。该辐射剂量检测装置包括:电离室,限定出容纳空间,所述容纳空间中填充有气体,所述气体被配置成与进入所述容纳空间的射线发生反应产生电子;N个VDMOS器件,置于所述容纳空间内,N为大于或等于1的整数;其中,N个所述VDMOS器件中至少一个器件的源漏反向电流电压曲线响应于所述电子发生变化,所述射线的辐射剂量通过变化前后的所述源漏反向电流电压曲线得到。

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