-
公开(公告)号：CN119575496A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411975500.7
申请日：2024-12-30
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC: G01V5/22 , G01N23/203 , G01N23/20008 , G01N23/04
Abstract: 本申请提供一种辐射检查系统，其包括多个扫描装置，这多个扫描装置环绕检查通道设置，以从不同角度对位于检查通道中的被检对象进行扫描，各扫描装置均包括射线源、飞轮和背散探测器，射线源、飞轮和背散探测器配合，对被检对象进行飞点背散扫描，各扫描装置的射线源按照各自的预设出束频率进行脉冲出束，且各扫描装置的射线源的出束时机错开，使得各扫描装置的射线源不同时出束。这样，可方便多个扫描装置不同时对被检对象进行飞点背散扫描。
-
公开(公告)号：CN119259504A
公开(公告)日：2025-01-07
申请号：CN202411629953.4
申请日：2024-11-14
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Inventor： 陈志强 , 李元景 , 张丽 , 宗春光 , 周合军 , 张植俊 , 刘必成 , 党永乐 , 张俊斌 , 徐晓莹 , 刘家良 , 王振严 , 韩文学 , 卞振华 , 徐斌 , 朱道瑶 , 韩凯锋 , 黄新闯
Abstract: 提供了一种物料分选方法，具体包括：获取待分选物料的X射线图像以及三维图像；基于所述X射线图像以及所述三维图像中的至少一个，识别各物料的物料状态，其中，所述物料状态包括非粘连状态和粘连状态，所述粘连状态包括与其余至少一个物料相接触的状态；对于所述X射线图像以及所述三维图像，若已执行物料状态识别则基于所述各物料的物料状态进行图像分割，若未执行物料状态识别则直接对所述各物料进行图像分割；基于所述各物料的物料状态，将经图像分割的所述X射线图像中的各物料分别与经图像分割的所述三维图像中的对应物料相匹配；根据所述X射线图像以及所述三维图像之间的物料匹配结果进行物料分选。还提供了一种物料分选装置。
-
公开(公告)号：CN118758980A
公开(公告)日：2024-10-11
申请号：CN202410785279.2
申请日：2021-07-12
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/04
Abstract: 本公开提出一种辐射成像系统和方法，涉及辐射探测技术领域。本公开的一种辐射成像系统包括：光电二极管探测器，被配置为接收来自射线源的射线，并生成第一探测信号；第一成像设备，与光电二极管探测器连接，被配置为根据第一探测信号生成第一成像数据；计数探测器，位于光电二极管探测器的远离射线接收面的一侧，被配置为接收穿过光电二极管探测器的射线，生成第二探测信号；计数成像设备，与计数探测器连接，被配置为根据第二探测信号生成计数成像数据；和图像融合装置，被配置为根据第一成像数据和计数成像数据，获取第一融合图像，提高辐射探测质量。
-
公开(公告)号：CN114764069B
公开(公告)日：2024-10-11
申请号：CN202011639188.6
申请日：2020-12-31
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本公开提供一种辐射检查系统，包括：集装箱(1)，其相对的侧壁上分别设有入口(A)和出口(B)；和辐射扫描成像设备(2)，设于集装箱(1)内且具有检查通道(G)，辐射扫描成像设备(2)包括射线源(21)，射线源(21)包括多个射线发生器(21’)，多个射线发生器(21’)被配置为以不同的角度发出射线束，以使辐射扫描成像设备(2)对从入口(A)至出口(B)经过检查通道(G)的待检查物体进行辐射扫描检查。
-
公开(公告)号：CN118483260A
公开(公告)日：2024-08-13
申请号：CN202410911913.2
申请日：2024-07-09
Applicant: 同方威视科技江苏有限公司 , 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/222 , G01N23/04 , G01N23/083
Abstract: 本发明涉及基于放射性的元素分析领域，尤其是，涉及一种元素分析系统、方法和装置、以及程序产品，所述元素分析系统包括：X射线扫描设备，包括X射线源和探测器阵列，对物料进行双能的X射线扫描；瞬发伽玛中子活化分析设备，在所述物料传输方向上，安装在所述X射线扫描设备的下游；以及控制装置，基于所述X射线扫描获得的各位置上的物料的尺寸、质量衰减系数和密度，计算自吸收修正系数，对伽马能谱进行修正。通过本申请的元素分析系统、方法和装置、以及程序产品，能够提高修正系数的计算准确度，从而提高元素分析检测精度。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108761555B
公开(公告)日：2024-06-21
申请号：CN201810560645.9
申请日：2018-05-25
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种集装箱车辆检查系统和集装箱车辆检查方法。集装箱车辆检查系统具有供集装箱车辆通过的沿第一方向延伸的扫描通道，包括：扫描设备，包括用于输出辐射束以检查集装箱车辆的辐射源；多个区域激光传感装置，沿所述第一方向间隔布置，每个所述区域激光传感装置具有用于感测集装箱车辆的感测区域并检测集装箱车辆进入其感测区域和/或离开其感测区域的感测信息；和控制装置，与所述扫描设备和所述多个区域激光传感装置信号连接，并根据所述多个区域激光传感装置的感测信息操纵所述扫描设备检查集装箱车辆。基于本发明提供的集装箱车辆检查系统和集装箱车辆检查方法，利于准确判断车辆位置，并能够减少误动作，提升检查成功率。
-
公开(公告)号：CN108562932B
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN201810756335.4
申请日：2018-07-11
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T7/00
Abstract: 本发明公开了一种辐射检测系统，涉及辐射检测技术领域，用以提高辐射检测系统行走的灵活性。该辐射检测系统包括车体、辐射检测设备以及行走设备。辐射检测设备设于车体；行走设备设于车体下方，用于带着车体行走；其中，行走设备被构造为能相对于车体绕着竖直轴线转动。上述技术方案提供的辐射检测系统，设有能够相对于车体绕着竖直轴线转动的行走设备，辐射检测系统能够实现朝着多个方向前进，在采用上述辐射检测系统对被检货物/车辆进行检查时，通过行走设备控制实现前进、后退、横向行走、原地转弯、回转等多个方向的行走，提高了辐射检测系统行走以及转场的灵活性。
-
公开(公告)号：CN114764070B
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202011639191.8
申请日：2020-12-31
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本公开提供一种辐射检查设备，具有运输状态和工作状态，包括：集装箱，其宽度可调节，所述集装箱在所述运输状态的宽度小于所述工作状态的宽度；辐射检查装置，设于所述集装箱内，包括射线源和探测器，在所述运输状态，所述辐射检查装置沿所述集装箱的长度方向设置，在所述工作状态，所述辐射检查装置沿所述集装箱的宽度方向设置以对沿所述长度方向通过所述集装箱内部的车辆进行辐射扫描检查；转动装置，设于所述集装箱内，被配置为在所述运输状态和所述工作状态切换时转动所述辐射检查装置。
-
公开(公告)号：CN107966460B
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN201711429492.6
申请日：2017-12-26
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种辐射检查系统和辐射检查方法。辐射检查系统包括辐射源和射束调制装置，射束调制装置包括设置于辐射源的射束出射侧的第一准直结构和设置于第一准直结构的射束出射侧的第二准直结构，第二准直结构与第一准直结构相对可动地设置以改变第一准直结构的第一准直口和第二准直结构的第二准直口的相对位置，使射束调制装置在第一工作状态和第二工作状态之间切换，其中，在第一工作状态，射束调制装置将初始射束调制为扇形束，在第二工作状态，射束调制装置将初始射束调制为位置可变的笔形束。本发明的辐射检查系统和辐射检查方法可以兼顾检查效率和检查精度。
-
公开(公告)号：CN117761790A
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN202311774575.4
申请日：2023-12-21
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种定位透射检测设备的接收探测射线的探测器的系统和方法，该系统包括：射线位置检测显示部，被配置成检测和显示透射检测设备的射线源发射的射线束面的位置，射线束面在与射线源的射线发射方向相对的第一平面内的投影为直线；可见光发射部件，被配置成发射在第一平面内的投影为直线的可见光束面；调节装置，与可见光发射部件连接，并被配置成调节可见光发射部件的可见光发射方向或沿垂直于可见光束面的位置，以将可见光束面调整至射线位置检测显示部显示的射线束面的位置，以便于将可见光束面作为基准面布置或调整探测器，以使探测器可接收射线源发射的射线。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
376
records
(took 0.071 seconds)
