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公开(公告)号：CN109932891A
公开(公告)日：2019-06-25
申请号：CN201910185071.6
申请日：2019-03-12
Applicant: 天津芯海创科技有限公司 , 天津市滨海新区信息技术创新中心
IPC: G05B9/03
Abstract: 本发明提供了一种异构冗余的拟态MCU，包括异构MCU模块和拟态调度模块；所述异构MCU模块包括至少三个不同架构的MCU芯片以及对应MCU芯片的外围子系统，该MCU芯片中的一个作为备份MCU，其他作为判决MCU；所述拟态调度模块包括判决模块和多个数据通信接口；所述MCU芯片通过对应的数据通信接口与所述判决模块信号连接，该数据通信接口接收所有MCU芯片的运算结果并发送至判决模块，由判决模块判决MCU工作状态及唯一结果输出。本发明所述的异构冗余的拟态MCU，能够使单个或多个MCU收到外部攻击后系统仍保持正常工作状态或快速恢复正常工作状态，提高系统功能和性能的稳定性，提高系统的安全性和鲁棒性。
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公开(公告)号：CN108387838A
公开(公告)日：2018-08-10
申请号：CN201810192257.X
申请日：2018-03-07
Applicant: 天津芯海创科技有限公司 , 天津市滨海新区信息技术创新中心
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提供了一种芯片测试方法、装置、芯片及设计芯片的方法，涉及芯片测试技术领域，该芯片测试方法，芯片预先设置有测试模式；包括：启动芯片的测试模式；在测试模式下，芯片可输出同步信号，用于端口信号的同步，且芯片的状态寄存器映射至数字IO；根据同步信号采集端口输出的参数数据；扫描数字IO获取状态寄存器的状态数据；分别根据参数数据和状态数据确定芯片是否工作正常。本发明实施例提供的芯片测试方法、装置、芯片及设计芯片的方法，在测试模式测试机台可根据同步信号抓取高速端口参数数据，完成参数测试；并且可以直接扫描数字IO引脚查看芯片状态，无需再读取内部寄存器，降低测试难度和减少测试时间。
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公开(公告)号：CN108169661A
公开(公告)日：2018-06-15
申请号：CN201711455300.9
申请日：2017-12-28
Applicant: 天津芯海创科技有限公司 , 天津市滨海新区信息技术创新中心
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提供了一种集成电路设计方法和集成电路闩锁效应测试方法，属于集成电路设计技术领域。其中，集成电路设计方法包括：从集成电路中选取指定的端口作为闩锁效应测试模式的控制端；建立控制端与集成电路中除复位端口之外的剩余端口之间的关联关系，以使控制端控制剩余端口在闩锁效应测试模式中的状态。本发明实施例提供的集成电路设计方法和集成电路闩锁效应测试方法，为集成电路设置了闩锁效应测试模式的控制端，利用该控制端控制集成电路的端口在闩锁效应测试模式中的状态，增加了电路内部信号的可控制性，可以更好的满足Latch up测试的需求，有利于客观准确地评价电路的抗闩锁效应能力，保证器件的质量。
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公开(公告)号：CN111123073B
公开(公告)日：2022-05-10
申请号：CN201911383055.4
申请日：2019-12-27
Applicant: 天津芯海创科技有限公司 , 天津市滨海新区信息技术创新中心
Abstract: 本发明提供了一种硬件板卡快速自检装置，包括精密采样电阻、开关切换单元、运放单元、电流源、模数转换器、数字单元、以及处理显示单元，所述精密采样电阻连接第一开关切换单元的输入端，第一开关切换单元的输出端连接运放单元以及电流源的输入端，运放单元以及电流源的输出端连接第二开关切换单元的输入端，第二开关切换单元的输出端连接模数转换器的输入端，模数转换器的输出端连接第三开关切换单元的输入端，第三开关切换单元的输出端连接数字单元的输入端，数字单元的输出端连接处理显示单元的输入端。本发明使用精密采样电阻串联在电源模块和负载之间，采集电阻两端电参数，即可完成电源指标测试。
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公开(公告)号：CN110535790B
公开(公告)日：2022-03-18
申请号：CN201910784704.5
申请日：2019-08-23
Applicant: 天津芯海创科技有限公司 , 天津市滨海新区信息技术创新中心
IPC: H04L49/109 , H04L49/55
Abstract: 本发明提出一种应用于RapidIO交换网络的异常报文处理机制，所述机制中涉及RapidIO报文发送模块，另外还包括新设置的中断处理模块、semaphore处理模块、异常报文处理模块。本发明将基于semaphore的进程间通信机制与中断处理机制配合应用到RapidIO交换网络中，可以及时发现处理机发出的异常报文，及时结束处理机发送异常报文的任务；清除处理机发出的异常报文的功能，防止处理机发生死机，确保整个交换网络不受影响，既增强了交换网络的稳定性和可靠性，又避免了重启系统造成的损失，而且节省了人工重启系统的人力成本。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108169661B
公开(公告)日：2020-07-10
申请号：CN201711455300.9
申请日：2017-12-28
Applicant: 天津芯海创科技有限公司 , 天津市滨海新区信息技术创新中心
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提供了一种集成电路设计方法和集成电路闩锁效应测试方法，属于集成电路设计技术领域。其中，集成电路设计方法包括：从集成电路中选取指定的端口作为闩锁效应测试模式的控制端；建立控制端与集成电路中除复位端口之外的剩余端口之间的关联关系，以使控制端控制剩余端口在闩锁效应测试模式中的状态。本发明实施例提供的集成电路设计方法和集成电路闩锁效应测试方法，为集成电路设置了闩锁效应测试模式的控制端，利用该控制端控制集成电路的端口在闩锁效应测试模式中的状态，增加了电路内部信号的可控制性，可以更好的满足Latch up测试的需求，有利于客观准确地评价电路的抗闩锁效应能力，保证器件的质量。
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公开(公告)号：CN111083072A
公开(公告)日：2020-04-28
申请号：CN201911200928.3
申请日：2019-11-29
Applicant: 天津市滨海新区信息技术创新中心 , 天津芯海创科技有限公司
IPC: H04L12/931 , H04L29/06
Abstract: 本发明实施例公开了一种交换机报文装置及方法，其中，所述装置包括：报文传输模块，所述报文传输模块包括至少第一共享物理内存空间和第二共享物理内存空间，所述第一共享物理内存空间用于被驱动报文接收模块、协议栈报文接收模块同时访问，在协议报文上送的时候将协议报文从驱动报文接收模块传输到协议栈报文接收模块；第二共享物理内存空间用于被协议栈报文发送模块、驱动报文发送模块同时访问，用于在协议报文下送的时候将协议报文从协议栈报文发送模块传输到驱动报文发送模块。避免出现报文传输不稳定的情况，能够增强支持以太网、RapidIO和FC三种通信协议的交换网络的可靠性和稳定性。报文上送传输与报文下发传输独立进行，互不影响，具有双工特点。
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公开(公告)号：CN107942237A
公开(公告)日：2018-04-20
申请号：CN201711455619.1
申请日：2017-12-28
Applicant: 天津芯海创科技有限公司 , 天津市滨海新区信息技术创新中心
Inventor： 张波 , 吕平 , 刘勤让 , 沈剑良 , 宋克 , 朱珂 , 张进 , 王永胜 , 李沛杰 , 谭力波 , 虎艳宾 , 王锐 , 魏帅 , 何浩 , 李杨 , 毛英杰 , 赵玉林 , 张霞
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/2855
Abstract: 本发明实施例提出一种激励板与芯片老化监测系统，涉及芯片老化监测领域。激励板包括处理器、数据传输单元以及无线通信单元，处理器分别与数据传输单元、无线通信单元电连接，处理器用于通过数据传输单元向一老化板发送激励信号，数据传输单元用于接收老化板响应激励信号传输的反馈数据，并将反馈数据传输至处理器，处理器用于通过无线通信单元将反馈数据发送至一智能终端显示。本发明提供的激励板与芯片老化监测系统具有在进行芯片老化实验时可以具体参数信息以及能够实现远程监控的优点。
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公开(公告)号：CN110535790A
公开(公告)日：2019-12-03
申请号：CN201910784704.5
申请日：2019-08-23
Applicant: 天津芯海创科技有限公司 , 天津市滨海新区信息技术创新中心
IPC: H04L12/931 , H04L12/939
Abstract: 本发明提出一种应用于RapidIO交换网络的异常报文处理机制，所述机制中涉及RapidIO报文发送模块，另外还包括新设置的中断处理模块、semaphore处理模块、异常报文处理模块。本发明将基于semaphore的进程间通信机制与中断处理机制配合应用到RapidIO交换网络中，可以及时发现处理机发出的异常报文，及时结束处理机发送异常报文的任务；清除处理机发出的异常报文的功能，防止处理机发生死机，确保整个交换网络不受影响，既增强了交换网络的稳定性和可靠性，又避免了重启系统造成的损失，而且节省了人工重启系统的人力成本。
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公开(公告)号：CN109342921A
公开(公告)日：2019-02-15
申请号：CN201811172506.5
申请日：2018-10-09
Applicant: 天津芯海创科技有限公司 , 天津市滨海新区信息技术创新中心
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提供了一种高速交换芯片的老化测试方法与系统，在动态老化测试时，将被测IC置于老化板，通过控制板为老化板提供激励信号，对被测IC进行高温及电压拉偏测试，对被测IC的数字部分进行数字引脚拉高拉低操作，对被测IC的模拟部分进行环回测试，对被测IC的交换模块进行收发包测试。本发明能够实现对高速交换芯片数字部分，模拟部分和交换部分的老化测试，对于早期失效产品的老化筛选测试项覆盖的更加全面，有利于在老化测试时就发现更多可能潜在问题，并通过实时监测显示高温动态老化各个功能测试项的结果能够及时发现每个功能模块的耐老化能力，通过实时存储老化信息有利于对测试结果进行分析。
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